РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ: ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ 1-2024
Аннотация
Скачать журнал
ОПТИМИЗАЦИЯ КОНСТРУКЦИИ МИКРОНАГРЕВАТЕЛЬНОГО ЭЛЕМЕНТА ДЛЯ ИНФРАКРАСНОГО МЭМС ИЗЛУЧАТЕЛЯ
OPTIMIZATION OF THE DESIGN OF A MICROHEATING ELEMENT FOR AN INFRARED MEMS EMITTER
Амеличев В.В., к. т. н., Генералов С.С., Григорьев Д.М., Горелов Д.В., Никифоров С.В., НПК «Технологический центр»; +7 (499) 720-87-79; v.amelichev@tcen.ru Amelichev V.V., Ph. D., Generalov S.S., Grigorev D.M., Gorelov D.V., Nikiforov S.V., SMC "Technological Centre"; +7 (499) 720-87-79; v.amelichev@tcen.ru
Аннотация. Технология микроэлектромеханических систем (далее – МЭМС) широко применяется в различных отраслях, включая электронику, медицину и науку. Одной из областей, в которой МЭМС-технологии демонстрируют свой потенциал, является разработка микронагревателей для инфракрасных (далее - ИК) излучателей. Микронагреватели на основе МЭМС-технологий представляют собой инновационное решение для создания эффективных инфракрасных излучателей. В статье представлены результаты оптимизации конструкции резистивного микронагревателя для инфракрасного излучателя с использованием конечно-элементного моделирования в Ansys Mechanical. Целью оптимизации является повышение эффективности микронагревателя, заключающейся в достижении минимального отклонения между значениями максимальной рабочей (640 °С) и средней по площади температуры микронагревателя. Для получения сравнительного результата проанализировано четыре последовательно оптимизированных конструкции микронагревателей.
Annotation. Microelectromechanical systems (MEMS) technology is widely used in various industries, including electronics, medicine and science. One of the areas in which MEMS technologies demonstrate their potential is the development of micro heaters for infrared (IR) emitters. Microheaters based on MEMS technologies are an innovative solution for creating efficient infrared radiators. The article presents the results of optimizing the design of a resistive electric heater for an infrared emitter using finite element modeling in Ansys Mechanical. The purpose of optimization is to increase the efficiency of the microheater, which consists in achieving a minimum deviation between the values of the maximum operating temperature (640 ° C) and the average area temperature of the microheater. To obtain a comparative result, four sequentially optimized designs of microheaters were analyzed.
Ключевые слова: микронагреватель, метод конечных элементов, температурное распределение, МЭМС-технология, ИК-излучатель
Keywords: microheater, finite element method, temperature distribution, MEMS technology, IR emitter
ОНТОЛОГИЯ ПРЕДМЕТНОЙ ОБЛАСТИ КАК ОСНОВА ДЛЯ РАЗРАБОТКИ КОМПЛЕКСА ВЗАИМОУВЯЗАННЫХ ДОКУМЕНТОВ ПО СТАНДАРТИЗАЦИИ В РАДИОЭЛЕКТРОНИКЕ
DOMAIN ONTOLOGY AS A BASIS FOR THE DEVELOPMENT OF A SET OF INTERRELATED DOCUMENTS ON STANDARDIZATION IN RADIO ELECTRONICS
Зажигалкин А.В., д. э. н., Козлов И.П., Колядин А.И., ФГБУ «ВНИИР»; 7 985 162-67-66, psb@vniir-m.ru Zazhigalkin A.V., Doctor of Economics, Kozlov I.P., Kolyadin A.I., FSBI «VNIIR»; 7 985 162-67-66, psb@vniir-m.ru
Аннотация. Обозначены существующие проблемы в области стандартизации радиоэлектроники. Обоснована целесообразность онтологического подхода к разработке комплекса взаимоувязанных стандартов по всем предметным областям в радиоэлектронике. Дано краткое описание термина – онтология. Сделан вывод о потребности инженера проектировщика электроники в базе знаний по взаимосвязанным требованиям стандартов к электронным изделиям.
Annotation. The existing problems in the field of standardization of radio electronics are outlined. The expediency of an ontological approach to the development of a set of interrelated standards in all subject areas in radio electronics is substantiated. A brief description of the term ontology is given. It is concluded that the electronics engineer needs a knowledge base on the interrelated requirements of standards for electronic products.
Ключевые слова: стандартизация, радиоэлектроника, онтология, база знаний
Keywords: standardization, radio electronics, ontology, knowledge base
ИМПОРТОЗАМЕЩЕНИЕ ПЛИС НА ПРИМЕРЕ ОТЕЧЕСТВЕННЫХ ПОЛУЗАКАЗНЫХ МИКРОСХЕМ НА БМК СЕРИЙ 5503 и 5507
IMPORT SUBSTITUTION OF FPGAs BY THE EXAMPLE OF DOMESTIC FUNCTIONAL ANALOGUES OF LSI ON BMK SERIES 5503 AND 5507
Денисов А.Н., к. т. н., главный конструктор направления интегральных микросхем НПК «Технологический центр», +7 499 720-87-93; +7 499 720-89-92, kovcheg@tcen.ru. Denisov A.N., Candidate of Technical Sciences, chief designer of the integrated circuits department, Scientific-Manufacturing Complex "Technological Center", +7 499 720-87-93; +7 499 720-89-92, kovcheg@tcen.ru.
Аннотация. Обозначена проблематика применения зарубежных ПЛИС при проектировании электронных средств. Предложены альтернативы функциональных аналогов ПЛИС отечественного производства. В частности, перевод проекта на ПЛИС в базис БМК, что являются наиболее простым и надежным способом получения функционального аналога ПЛИС. Описаны характеристики БМК серий 5503 и 5507.
Annotation. The problems of using foreign FPGAs in the design of electronic devices are outlined. Alternatives to functional analogues of domestically produced FPGAs are proposed. In particular, transferring the project to the FPGA into the BMK basis, which is the simplest and most reliable way to obtain a functional analogue of the FPGA. The characteristics of the BMK series 5503 and 5507, the possibility of testing them, operating conditions and delivery conditions are described. Also presented are domestic software tools for converting FPGA projects into the BMK basis.
Ключевые слова: микросхема, БМК, ПЛИС, серия 5503, серия 5507, САПР, перевод проекта ПЛИС в БМК
Keywords: integrated circuit, ULA, FPGA, 5503 series, 5507 series, CAD, design of LSI on ULA
УНИВЕРСАЛИЗАЦИЯ МИКРОСХЕМ НИЗКОЙ СТЕПЕНИ ИНТЕГРАЦИИ ПРИ ПЕРЕНОСЕ ИХ ПРОИЗВОДСТВА НА СОВРЕМЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ НОРМЫ
UNIVERSALIZATION OF LOW-DEGREE INTEGRATION MICROCIRCUITS WHEN TRANSFERING THEIR PRODUCTION TO MODERN TECHNOLOGICAL STANDARDS
Денисов А.Н., к. т. н., Козлов В.В., Коняхин В.В., НПК «Технологический центр», +7 499 720-87-93; +7 499 736-95-23; +7 499 720-89-92, kovcheg@tcen.ru Denisov A.N., Candidate of Technical Sciences, Kozlov V.V., Konyakhin V.V., Scientific-Manufacturing Complex «Technological Center», +7 499 720-87-93; +7 499 736-95-23; +7 499 720-89-92, kovcheg@tcen.ru
Аннотация. На примере универсализации микросхем стандартной логики низкой степени интеграции показаны преимущества перевода их производства на современные технологические нормы. Представлен метод унификации производства микросхем стандартной логики, выпускаемых АО «Микрон» на пластинах 100 мм, опирающийся на применение многофункциональных базовых кристаллов, разработанных по современным технологическим нормам 180 нм для производства на пластинах 200 мм. Разработаны два типа многофункциональных базовых кристаллов с конструкцией «море вентилей» для замены микросхем в 14-выводных и 16-выводных корпусах.
Annotation. Using the example of universalization of standard logic microcircuits with a low degree of integration are shown the advantages of transferring their production to modern technological standards. A method is presented for unifying the production of standard logic chips produced by Mikron JSC on 100 mm silicon wafers, based on the use of multifunctional base crystals developed according to modern 180 nm technological standards for production on 200 mm silicon wafers. Two types of multifunctional base crystals with a “sea of gates” design have been developed to replace microcircuits in 14-pin and 16-pin packages.
Ключевые слова: микросхема, многофункциональный базовый кристалл, МБК
Keywords: Integrated circuit, Uncommitted Logic Array, ULA
НАУЧНО-МЕТОДИЧЕСКИЙ ПОДХОД ПРИ РЕШЕНИИ ЗАДАЧ РАЗРАБОТКИ ТЕХНИЧЕСКИХ ТРЕБОВАНИЙ К ЭЛЕКТРОННОЙ ПРОДУКЦИИ В РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ОТРАСЛИ
SCIENTIFIC AND METHODOLOGICAL APPROACH TO SOLVING THE PROBLEMS OF DEVELOPING TECHNICAL REQUIREMENTS FOR ELECTRONIC PRODUCTS IN THE RADIOELECTRONIC INDUSTRY
Булгаков О.Ю., к. воен. н., заслуженный работник связи Российской Федерации, ФГБУ «ВНИИР»; +7 985-725-73-68, bulgakov@vniir-m.ru Bulgakov O.Yu., Ph.D. of military sciences, honored Worker of Communications of the Russian Federation, FSBI "VNIIR"; +7 985-725-73-68, bulgakov@vniir-m.ru
Аннотация. В представленном материале раскрываются научно-методический подход к решению задач и возникающих противоречий, имеющихся в радиоэлектронной отрасли, в вопросах совершенствования системы управления отраслью, формировании технических требований к выпускаемой электронной продукции, совершенствованию нормативно-правовой базы её развития.
Annotation. The presented material reveals a scientific and methodological approach to solving problems and emerging contradictions in the radioelectronic industry, in matters of improving the industry's management system, forming technical requirements for manufactured electronic products, and improving the regulatory framework for its development.
Ключевые слова: электронная и радиоэлектронная промышленность, радиоэлектронная промышленность, электронная продукция, управление развитием радиоэлектронной промышленности, технические требования к электронной продукции, методы решения
Keywords: electronic and radioelectronic industry, radioelectronic industry, electronic products, management of the development of the radioelectronic industry, technical requirements for electronic products, solution methods
АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ВИЗУАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ МЕТОДОМ СРАВНЕНИЯ ШАБЛОНОВ
AUTOMATED VISUAL QUALITY CONTROL OF MICROELECTRONICS PRODUCTS BY TEMPLATE MATCHING METHOD
Рубцов Ю.В., Малышев В.Э., Назаренко А.А., АО «ЦКБ «Дейтон»; +7-926-009-37-00, rubtsov@deyton.ru Rubtsov Yu.V., Malyshev V.E., Nazarenko A.A., JSC "Central Design Office "Deyton"; +7-926-009-37-00, rubtsov@deyton.ru
Аннотация. Данная статья посвящена применению метода сравнения шаблонов для обеспечения контроля качества изделий микроэлектроники. В микроэлектронной промышленности, любой дефект или неисправность корпуса интегральной микросхемы может привести к катастрофическим последствиям, поэтому предприятия, изготавливающие данные изделия, должны быть уверены в том, что дефект на изделии будет обнаружен. Существует множество методов выявления дефектов, которые применяются в электронной промышленности, однако метод сравнения шаблонов является одним из наиболее простых и эффективных методов автоматизированного обнаружения и классификации дефектов с высокой точностью. Выявление и разделение исправных и дефектных изделий при помощи данного метода позволило бы сократить время, требуемое для контроля качества и обеспечить более высокую надежность выявления дефектов и устранения причин дефектов.
Annotation. This article is dedicated to the application of template matching method for quality control in microelectronics manufacturing. In the microelectronics industry, any defect or malfunction in the integrated circuit casing can lead to catastrophic consequences, so companies manufacturing these products must be confident that defective or damaged items will be detected. There are many defect detection methods that have been used in the electronics industry in the past, however, the template matching method is one of the simplest and most effective ways to detect and classify objects with high accuracy. Detecting and segregating functional and defective products using this method would reduce the time required for quality control and ensure a higher reliability of defect detection.
Ключевые слова: метод сравнения шаблонов, обнаружение (определение, идентификация) дефектов, автоматизированный визуальный контроль, компьютерное зрение
Keywords: template matching method, defect detection, automated visual control, computer vision
ЭКСПРЕСС–МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА УСКОРЕНИЯ ИСПЫТАНИЙ И ЭНЕРГИИ АКТИВАЦИИ ПРИ ОЦЕНКЕ СООТВЕТСТВИЯ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ ТРЕБОВАНИЯМ К НАДЕЖНОСТИ
EXPRESS METHOD FOR DETERMINING THE TEST ACCELERATION COEFFICIENT AND ACTIVATION ENERGY IN ASSESSING THE COMPLIANCE OF ELECTRONIC COMPONENT BASE PRODUCTS WITH RELIABILITY REQUIREMENTS
Дульский Г.И., Старостин С.В., Французов С.С., к. т. н., ФГБУ «46 ЦНИИ» Минобороны России Dulskiy G.I., Starostin S.V., Francuzov S.S., Ph. D. of Engineering Sciences, FSBI 46 Central Research Institute of the Ministry of Defense of the Russian Federation
Аннотация. В статье предложен экспресс–метод определения коэффициента ускорения испытаний и энергии активации при оценке соответствия изделий электронной компонентной базы требованиям к надежности, основанный на результатах обработки данных о поведении во времени параметров-критериев годности изделий.
Annotation. The article proposes a express method for determining the test acceleration coefficient and activation energy in assessing the compliance of electronic component base products with reliability requirements, based on the results of processing data on the behavior of parameters over time-the criteria for the shelf life of products.
Ключевые слова: надежность, электронная компонентная база, коэффициент ускорения испытаний, энергия активации, гамма-процентная наработка до отказа, интенсивность отказов, гамма-процентный срок сохраняемости, оценка соответствия требованиям к надежности
Keywords: reliability, electronic component base products, test acceleration coefficient, energy of activation, gamma-percent operating time to failure, failure rate, gamma-percent retention period, assessing the compliance with reliability requirements
К ВОПРОСУ О МЕНЕДЖМЕНТЕ РИСКОВ
ON THE ISSUE OF RISK MANAGEMENT
Винокуров А.В. к. т. н., с. н. с., Алексеева Т.И., Зайцева Ю.А., ФБГУ «ВНИИР»; +7 (495) 586–17–21, usi@vniir-m.ru Vinokurov A.V. Ph.D. of engineering sciences, Senior Researcher Officer, Alekseeva T.I., Zaitseva Yu.A., FBGU "VNIIR"; +7 (495) 586-17-21, usi@vniir-m.ru
Аннотация. В статье рассмотрены вопросы реализации требований подраздела 6.1 стандарта ГОСТ РВ 0015-002-2020 в части действий в отношении рисков и возможностей, а также предложения по их улучшению.
Annotation. The article discusses the implementation of the requirements of subsection 6.1 of GOST RV 0015-002-2020 standard in terms of actions regarding risks and opportunities, as well as suggestions for their improvement.
Ключевые слова: риски, возможности, менеджмент, система менеджмента качества, ресурсы для менеджмента рисков и возможностей
Keywords: quality management system, monitoring and measurement resources
МЕТОДИЧЕСКИЙ ПОДХОД К ОЦЕНКЕ СТОИМОСТНЫХ ПОКАЗАТЕЛЕЙ ПРИ СРАВНЕНИИ АЛЬТЕРНАТИВНЫХ ВАРИАНТОВ РАЗВИТИЯ РАКЕТНО-КОСМИЧЕСКОЙ ТЕХНИКИ
METHODOLOGICAL APPROACH TO ASSESSING COST INDICATORS WHEN COMPARING ALTERNATIVE OPTIONS FOR THE DEVELOPMENT OF ROCKET AND SPACE EQUIPMENT
Милосердов С.С., к. т. н., Пестун У.А., к. э. н., Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «МИРЭА - Российский технологический университет» (РТУ МИРЭА), +7 (926) 716-21-18, ulun2015@yandex.ru; Хиль С.Ш. к. т. н, доцент, Эпенетосский В.Б., к. т. н, с. н. с.; ФГБУ «46 ЦНИИ» Минобороны России, +7 (916) 252-91-14. Miloserdov S.S., Ph.D., Pestun U.A., Ph.D., Federal State Budgetary Educational Institution of Higher Education “MIREA - Russian Technological University”, Khil S.Sh. Ph.D., Epenetossky V.B., Ph.D.; FSBI “46 Central Research Institute” of the Russian Ministry of Defense
Аннотация. В статье разработана методика расчета стоимостных показателей при сравнительной оценке альтернативных вариантов развития ракетно-космической техники. Предложена целевая функция, позволяющая учитывать: различие в сроках службы образцов ракетно-космической техники; падение эффективности образцов ракетно-космической техники; влияние годовых объемов производства образцов ракетно-космической техники. Результаты, полученные с применением данной методики, могут быть использованы на этапах подготовки проектов федеральной космической программы, а также при подготовке и проведении опытно-конструкторский работ по созданию образцов ракетно-космической техники.
Annotation. The article develops a methodology for calculating cost indicators in the comparative assessment of alternative options for the development of rocket and space technology. An objective function is proposed that allows taking into account: the difference in the service life of rocket and space technology samples; the decline in the effectiveness of rocket and space technology samples; the impact of annual production volumes of rocket and space technology samples. The results obtained using this technique can be used at the stages of preparation of projects of the federal space program, as well as during the preparation and conduct of experimental design work on the creation of samples of rocket and space technology.
Ключевые слова: ракетно-космическая техника, стоимостные показатели, эффект, вариант развития, полные затраты
Keywords: rocket and space technology, cost indicators, effect, development option, total costs
МЕТОДИЧЕСКИЕ РЕКОМЕНДАЦИИ И ТРЕБОВАНИЯ К ПОРЯДКУ ПРОВЕДЕНИЯ ВЫЕЗДНЫХ ПРОВЕРОК КВАЛИФИЦИРОВАННЫХ ПОСТАВЩИКОВ ЭКБ
METHODOLOGICAL RECOMMENDATIONS AND REQUIREMENTS FOR THE PROCEDURE FOR CONDUCTING ON-SITE INSPECTIONS OF QUALIFIED ECB SUPPLIERS
Подъяпольский С.Б., к. т. н., Булгаков О.Ю. к. воен. н., ФГБУ «ВНИИР»; +7 985-725-73-68, psb@vniir-m.ru Podyapolsky S.B., Candidate of Technical Sciences, Bulgakov O.Yu., Ph.D. of military sciences, FSBI «VNIIR»; +7 985-725-73-68, psb@vniir-m.ru
Аннотация. В статье предложен подход к проведению работ по организации проверки функционирования системы менеджмента качества и выполнения специфичных функций к организациям, осуществляющим обеспечение комплектования радиоэлектронной аппаратуры электронной компонентной базой.
Annotation. The article proposes an approach to carrying out work on the organization of verification of the functioning of the quality management system and the performance of specific functions for organizations providing electronic component base equipment for radio-electronic equipment.
Ключевые слова: радиоэлектронная аппаратура, электронная компонентная база, подтверждение соответствия, квалифицированный поставщик, система менеджмента качества, входной контроль
Keywords: electronic equipment, electronic component base, conformity assessment, qualified supplier, quality management system, entrance control