РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ: ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ 4-2025

Аннотация

ЗАРУБЕЖНЫЙ ОПЫТ НОРМИРОВАНИЯ ЗАТРАТ НА НИОКР В ОБЛАСТИ СОЗДАНИЯ ЭЛЕКТРОННО-КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ ДЛЯ ВООРУЖЕНИЯ И ВОЕННОЙ ТЕХНИКИ: СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ПОДХОДОВ США И СТРАН ЕВРОПЫ

COST ESTIMATION AND REGULATION FOR R&D IN THE DEFENSE SECTOR: A COMPARATIVE STUDY OF FOREIGN PRACTICES IN ELECTRONIC COMPONENT DEVELOPMENT FOR MILITARY HARDWARE

Иванникова Л.Л., начальник управления финансово-экономического контроллинга, ФГБУ «ВНИИР», +7 (495) 586-17-21 (доб. 1105), ivannikova@vniir-m.ru, Катушкин Ю.Ю., ведущий специалист отдела надежности, ФГБУ «ВНИИР», +7 (495) 586-17-21 (доб. 1378), katushkin@vniir-m.ru, Михайлова К.А., и.о. начальника планово-экономического отдела, ФГБУ «ВНИИР»; +7 (495) 586-17-21 (доб. 1532), mihailova_ka@vniir-m.ru Ivannikova L.L., Head of the Department of Financial and Economic Controlling, FSBI “VNIIR”; +7 (495) 586-17-21 (ext. 1105), ivannikova@vniir-m.ru, Katushkin Y.Y., Lead Specialist of the Reliability Department, FSBI “VNIIR”; +7 (495) 586-17-21 (ext. 1378), katushkin@vniir-m.ru, Mikhaylova K.A., Acting Head of the Planning and Economic Department, FSBI “VNIIR”; +7 (495) 586-17-21 (ext. 1532), mihailova_ka@vniir-m.ru

Аннотация. в статье исследуется зарубежный опыт нормирования затрат на НИОКР в оборонной отрасли применительно к разработке электронной компонентной базы для вооружения, военной и специальной техники. На основе сравнительного анализа нормативно-правовых баз и методических подходов США и ведущих стран Европейского союза выявлены универсальные тенденции и национальная специфика. Американская модель отличается высокой степенью формализации и стандартизации, тогда как европейские подходы демонстрируют большую гибкость и ориентацию на кооперацию. Сделан вывод о том, что ключевыми принципами эффективного управления затратами являются прозрачность, стандартизация учета и опора на исторические данные. Сформулированы рекомендации по возможной адаптации данного опыта, акцентирующие необходимость создания отраслевой базы данных по затратам и развития методов параметрического оценки.

Annotation. this article examines foreign practices of cost estimation and regulation for R&D in the defense sector, with a specific focus on the development of electronic components for military hardware. Through a comparative analysis of the regulatory frameworks and methodologies employed in the United States (CAS, DFARS) and key European nations (UK's QMAC, EDA initiatives), the study identifies universal trends and national specifics. The American model is characterized by a high degree of formalization and standardization, while European approaches exhibit greater flexibility and a focus on cooperation. The paper concludes that the core principles of transparency, standardized cost accounting, and reliance on historical data are crucial for effective cost management. Recommendations are provided for the potential adaptation of these principles, emphasizing the need for a dedicated cost database and the development of advanced cost estimation techniques.

Ключевые слова: нормирование затрат, оборонно-промышленный комплекс (ОПК), электронная компонентная база, научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, зарубежный опыт, сравнительный анализ, США, Европейский Союз

Keywords: cost estimation and regulation, defense industry, electronic components, research and development, international best practices, comparative analysis, United States, European Union (EU)

ОРГАНИЗАЦИЯ И ПОРЯДОК ПРОВЕДЕНИЯ МОДЕРНИЗАЦИИ, МОДИФИКАЦИИ И СОВЕРШЕНСТВОВАНИЯ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ

ORGANIZATION AND PROCEDURE FOR MODERNIZATION, MODIFICATION AND IMPROVEMENT OF ELECTRONIC COMPONENT PRODUCTS

Афанасьев А.С., к. т. н., доцент, Конча М.И., Болдырев М.А., +7 (495) 586-17-21 (доб.1356), bulgakov56@yandex.ru Afanasyev A.S., Candidate of technical Sciences, Koncha M.I., Boldyrev M.A., +7 (495) 586-17-21 (ех.1356), bulgakov56@yandex.ru

Аннотация. в статье рассматривается вопрос организации работ по модернизации, модификации и совершенствованию изделий электронной компонентной базы на этапе их серийного производства. Предлагается новый подход к организации модификации базового изделия электронной компонентной базы с целью разрешения противоречий в отношении сущности «типовых испытаний» и установления единого понятийного аппарата в рассматриваемой предметной области, раскрывающих сущность процессов (работ) преобразования изделий электронной компонентной базы: модернизации, модификации и совершенствования.

Annotation. the article discusses the organization of work on modernization, modification, and improvement of electronic component base products at the stage of their mass production. It proposes a new approach to the organization of modification of a basic electronic component base product in order to resolve contradictions regarding the essence of "typical tests" and establish a unified conceptual framework in the subject area under consideration, which reveals the essence of the processes (works) of ECB product transformation: modernization, modification, and improvement.

Ключевые слова: электронная компонентная база (ЭКБ), базовое изделие, модернизация, модификация, совершенствование, типономинал, организационно-технический документ

Keywords: electronic component base (ECB), basic product, modernization, modification, improvement, type-nominal, organizational and technical docum

ОБЗОР И АНАЛИЗ МЕТОДОВ АВТОМАТИЧЕСКОГО ОПТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ

REVIEW AND ANALYSIS OF METHODS FOR AUTOMATIC OPTICAL QUALITY CONTROL OF ELECTRONIC PRODUCTS

Дормидошина Д.А., заместитель генерального директора, эксперт по стандартизации, АО «ЦКБ «Дейтон»,+7 (925) 104-77-96, dormidoshina@deyton.ru, Рубцов Ю.В., генеральный директор, эксперт по стандартизации, АО «ЦКБ «Дейтон», +7 (926) 009-37-00, rubtsov@deyton.ru Dormidoshina D.A. Deputy General Director, Standardization Expert, JSC CKB Deiton, +7 (925) 104-77-96, dormidoshina@deyton.ru, Rubtsov Yu.V., General Director, Standardization Expert, JSC CKB Deiton, +7 (926) 009-37-00, rubtsov@deyton.ru

Аннотация. Электронная промышленность является одной из самых быстроразвивающихся, инновационных и наиболее конкурентоспособных отраслей. С целью обеспечения высоких требований к изделиям электронной компонентной базы, система контроля качества должна быть на высоком уровне. Автоматический оптический контроль является одним из неразрушающих методов, используемых в системах контроля качества продукции. Этот метод считается надежным и может заменить инспекторов-людей, оценка качества которых субъективна и не всегда соответствует истинному положению дел.
Система автоматизированного оптического контроля состоит из аппаратных и программных средств. Датчики изображения и подсветки в составе аппаратной части отвечают за получение изображения, в то время как программная часть выполняет извлечение особенностей полученных изображений и их классификацию на наличие дефектов на поверхности изделий. С помощью сортировочного механизма можно отделить бракованную продукцию от годной.
В данной статье представлен всесторонний обзор результатов исследований, разработки и применения систем автоматизированного оптического контроля качества электронной компонентной базы, используемых в радиоэлектронной аппаратуре. Рассмотрены дефекты изделий.
Алгоритмы контроля, используемые для обнаружения дефектов, обсуждаются с точки зрения обработки изображений, извлечения признаков и использования инструментов классификации. Статья завершается выделением современных тенденций и возможных будущих направлений исследований.

Annotation. The electronics industry is one of the fastest growing, most innovative and most competitive industries. In order to ensure high requirements for electronic component base products, the quality control system must be at a high level. Automatic optical testing is one of the non-destructive methods used in product quality control systems. This method is considered reliable and can replace human inspectors, whose quality assessment is subjective and does not always correspond to the true state of affairs. The automated optical testing system consists of hardware and software. Image and backlight sensors in the hardware are responsible for obtaining images, while the software extracts features of the obtained images and classifies them for defects on the surface of products. Using a sorting mechanism, it is possible to separate defective products from good ones. This article presents a comprehensive review of the results of research, development and application of automated optical quality control systems for electronic component base used in electronic equipment. Product defects are considered. The control algorithms used to detect defects are discussed in terms of image processing, feature extraction and the use of classification tools. The article concludes by highlighting current trends and possible future directions for research.

Ключевые слова: автоматический оптический контроль, алгоритмы классификации, электронная компонентная база, извлечение признаков, обработка изображений, камера изображения, машинное обучение, компьютерное зрение

Keywords: automatic optical inspection, classification algorithms, electronic component base, feature extraction, image processing, image camera, machine learning, computer vision

РАЗРАБОТКА ФОТОДИОДНОЙ МИШЕНИ ДЛЯ ИНФРАКРАСНОГО ВИДИКОНА

DEVELOPMENT OF A PHOTODIODE TARGET FOR INFRARED VIDICON

Таганова М.В., инженер, Меркин С.Ю., старший научный сотрудник, Вязников А.Н., генеральный директор, АО «ЦНИИ «Электрон», +7 (951) 656-41-97, mvbogdanova@inbox.ru, +7 (812) 297-04-03, semion08@gmail.com, a.vyaznikov@niielectron.ru Taganova M.V., Engineer, Merkin S.Yu., Senior Researcher, Vyaznikov A.N., General Director, JSC "Central Research Institute "ELECTRON", +7 (951) 656-41-97, mvbogdanova@inbox.ru, +7 (812) 297-04-03, semion08@gmail.com, a.vyaznikov@niielectron.ru

Аннотация. в статье рассмотрены особенности изготовления и функционирования фоточувствительных мишеней видиконов, а также приведены данные о состоянии существующих мишеней и перспективы в разработке новой фотодиодной мишени на основе арсенида индия (InAs), изготавливаемой для фотоприемного устройства инфракрасного диапазона. Разработка данной мишени предполагает повышение чувствительности, долговечности, предельной рабочей температуры и других характеристик ФПУ по сравнению с аналогичным ФПУ на основе используемой сейчас мишени InAs-PbS-CdTe

Annotation. the article discusses the features of the manufacture and operation of photosensitive vidicon targets, and also provides data on the state of existing targets and prospects for the development of a new photodiode target based on indium arsenide (InAs), manufactured for an infrared photodetector. The development of this target is expected to improve the sensitivity, durability, maximum operating temperature and other characteristics of the photodetector compared to a similar photodetector based on the currently used InAs-PbS-CdTe target.

Ключевые слова: фотодиодная мишень, инфракрасное фотоприемное устройство, видикон

Keywords: photodiode target, infrared photodetecting device, vidicon

РАЗРАБОТКА И РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЯ МАТРИЧНОГО КМОП-ФОТОПРИЕМНИКА

DEVELOPMENT AND RESEARCH RESULTS OF A MATRIX CMOS PHOTODETECTOR

Баталов К.С., заместитель начальника отдела, Татаурщиков С.С., к. т. н., генеральный конструктор, Егоренков А.А., начальник отдела, Челышков С.Н., инженер 2 категории, Вязников А.Н., генеральный директор, АО «ЦНИИ «Электрон», +7 (812) 297-82-49 (доб. 336), k.batalov@niielectron.ru Batalov K.S., deputy department head, Tataurshchikov S.S., Ph.D. of Engineering Sciences, general engineer, Egorenkov А.А., department head, Chely`shkov S.N., engineer of the 2nd category, Vyaznikov A.N., general director, JSC Central Research Institute Elektron, +7 (812) 297-82-49 (ext. 336), k.batalov@niielectron.ru

Аннотация. в статье представлены предварительные результаты разработки и исследования матричного КМОП-фотоприемника. Приведены основные параметры и режимы работы прибора. Рассмотрены конструктивные особенности двух модификаций устройства, проанализированы их технические характеристики и преимущества.

Annotation. the article presents the preliminary results of the development and research of a matrix CMOS photodetector. The main parameters and operating modes of the device are given. The design features of two modifications of the device are considered; their technical characteristics and advantages are analyzed. Special attention is paid to the issues of import substitution and the organization of domestic production of critical components.

Ключевые слова: матричный КМОП фотоприёмник, затвор, импортозамещение

Keywords: CMOS image sensor, Global Shutter, Import Substitution

ОДИН ИЗ ВАРИАНТОВ МЕТОДИКИ СКВОЗНОГО КОНТРОЛЯ ПОДРАЗДЕЛЕНИЙ ПОСТАВЩИКА ЭКБ ПО ВЫПОЛНЕНИЮ ПРОЦЕДУРЫ ИДЕНТИФИКАЦИИ И ПРОСЛЕЖИВАЕМОСТИ ЗАКУПАЕМОЙ И ПОСТАВЛЯЕМОЙ ПРОДУКЦИИ

AN OPTION FOR CHECKING THE DEPARTMENTS OF SUPPLIERS OF ELECTRONIC COMPONENTS TO COMPLY WITH THE IDENTIFICATION AND TRACKING PROCEDURES FOR PURCHASED AND SHIPPED PRODUCTS

Шведов А. В., заместитель генерального директора по качеству ООО «ВИТАЛ ЭЛЕКТРОНИКС ВП»; (812) 325-97-92, shvedov@vital-ic.com Shvedov A. V., Director of Quality VITAL ELECTRONICS VP LLC; (812) 325-97-92, shvedov@vital-ic.com

Аннотация. В статье рассмотрены вопросы реализации требований руководящего документа ЭС РД 010-2020 в части разработки и совершенствования методики сквозного контроля подразделений по выполнению процедуры идентификации и прослеживаемости закупаемых и поставляемых изделий электронной компонентной базы с этапа получения заявки от потребителя до отгрузки.

Annotation. The article discusses the implementation of the requirements of the ES RD 010-2020 guidance document regarding actions to develop and improve end-to-end control methods for departments to perform identification and traceability procedures for purchased and supplied electronic components, starting from the stage of receiving an application from the consumer and ending with shipment.

Ключевые слова: система менеджмента качества; поставщики электронной компонентной базы; идентификация; прослеживаемость

Keywords: quality management system; suppliers of electronic component base; identification; traceability