РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ: ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ 4-2022
Аннотация
Скачать журнал
ВОПРОСЫ ПРИМЕНЕНИЯ СЛОЖНО-ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ БЛОКОВ
ISSUES OF APPLICATION OF COMPLEX FUNCTIONAL BLOCKS
Потапкин В. Н., Купцова И.А., ФГБУ «ВНИИР»; +7 (495)-586-17-21, potapkin@vniir-m.ru, uraz@vniir-m.ru Potapkin V. N., Kuptsova I.A., FBSE «VNIIR»; +7 (495)-586-17-21, potapkin@vniir-m.ru, uraz@vniir-m.ru
Аннотация. В статье рассмотрен вопрос о необходимости создания единой базы сложно-функциональных блоков (далее - ЕБСФБ) в России. ЕБСФБ позволит получать полную и достоверную информацию о сложно–функциональных блоках, приобретать в режиме онлайн напрямую от производителя лицензионные сложно–функциональные блоки, обеспечить возможность использования базы зарубежными потребителями. Проводится анализ причин отсутствия ЕБСФБ в России и на глобальном рынке.
Annotation. The article discusses the need to create a unified database of intellectual property core (hereinafter referred to as the UDIPC) in Russia. The UDIPC should allow to receive reliable information about intellectual property core to purchase licensed intellectual property core online directly from the manufacturer to ensure that the database can be used by foreign consumers. The analysis of the reasons for the absence of UDIPC in Russia and on the global market is carried out.
Ключевые слова: сложно–функциональные блоки, база сложно-функциональных блоков, ЕБСФБ
Keywords: intellectual property core, database intellectual property core, UDIPC
АЛГОРИТМ РАСЧЁТА ПЕРПЕНДИКУЛЯРНОГО КОАКСИАЛЬНО ВОЛНОВОДНОГО ПЕРЕХОДА КВП В ПРОГРАММЕ ANSYS HFSS
ALGORITHM FOR CALCULATING THE PERPENDICULAR COAXIAL WAVEGUIDE TRANSITION KVP IN THE ANSYS HFSS PROGRAM
Редька Ал. В., Ионов В.Е., Аболдуев И.М., Иванов К.А., Василевский А.А., АО «НПП «Пульсар»; +79295535153, redka_av@pulsarnpp.ru; Давлятшина А.А., ФГБУ «ВНИИР» Radish Al. V., Ionov V.E., Abolduev I.M., Ivanov K.A., Vasilevsky A.A. JSC «NPP Pulsar»; +79295535153, redka_av@pulsarnpp.ru; Davlyatshina A.A., FSBI "VNIIR"
Аннотация. Статья посвящена расчёту герметичного перпендикулярного коаксиально волноводного перехода КВП в программе ANSYS HFSS [2, 3]. Задача расчёта перпендикулярного КВП разбивается на пять условно независимых подзадач меньшего размера в каждой из которых требуется подобрать с помощью программы ANSYS HFSS одну, две переменные. В результате изложенного в статье подхода рассчитан перпендикулярный КВП имеющий S11<-20dB в заданной полосе частот 9.4ГГц – 10.9ГГц.
Annotation. The article is devoted to the calculation of a sealed perpendicular coaxial waveguide transition of the KVP in the ANSYS HFSS program [2, 3]. The problem of calculating the perpendicular KVP is divided into five conditionally independent subtasks of smaller size in each of which it is required to select one or two variables using the ANSYS HFSS program. As a result of the approach described in the article, a perpendicular KVP with S11<-20dB in a given frequency band of 9.4GHz – 10.9GHz is calculated.
Ключевые слова: коаксиально волноводный переход (КВП), электромагнитный анализ пассивных трёхмерных устройств, сверх высокая частота (СВЧ), S – параметры, многополюсник, согласование, вычислительный эксперимент на ЭВМ, радиоэлектронная аппаратура (РЭА)
Keywords: coaxial waveguide junction (KVP), electromagnetic analysis of passive three–dimensional devices, ultra-high frequency (microwave), S - parameters, multipole, matching, computational experiment on a computer, radio-electronic equipment (REA)
СТОЙКОСТЬ НЕКОТОРЫХ ПОЛИМЕРНЫХ МАТЕРИАЛОВ К ВОЗДЕЙСТВИЮ СПЕЦИАЛЬНЫХ ФАКТОРОВ
RESISTANCE OF SOME POLYMER MATERIALS TO THE IMPACT OF SPECIAL FACTORS
Зелякова Т.И., к.т.н., Лучкина М.Е., Овчинникова С.А., Рубан С.О., ФГБУ «46 ЦНИИ» Минобороны России, 8(495)471-30-23, 32Otdel@mail.ru Zelyakova T. I., Luchkina M. E., OVCHINNIKOVA S. A., RUBAN S. O., 46 Central Research Institute Ministry of Defense of the Russian Federation, +7(495) 471-30-23, 32otdel@mail.ru
Аннотация. В статье представлены результаты экспериментальных исследований радиационной стойкости некоторых полимерных материалов, которые могут быть использованы в конструкции полупроводниковых приборов и интегральных микросхем, предназначенных для эксплуатации в радиоэлектронной аппаратуре ракетно-космической техники.
Annotation. The article presents the results of experimental studies of the radiation resistance of some polymeric materials that can be used in the design of semiconductor devices and integrated circuits intended for operation in radio-electronic equipment of rocket and space technology.
Ключевые слова: полимерные материалы, радиационная стойкость, электрическая прочность, термопласты, пленочные диэлектрики, слоистые пластики, лакоткани, компаунды, резины, клеи, лаки.
Keywords: polymeric materials, radiation resistance, dielectric strength, thermoplastics, film dielectrics, laminated plastics, varnished fabrics, compounds, rubbers, glues, varnishes
ТРАНСФОРМАЦИЯ ПОДХОДА К ОРГАНИЗАЦИИ ПРОЦЕССА ИСПЫТАНИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ И РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ
TRANSFORMATION OF APPROACH TO ORGANIZATION OF TEST PROCESS OF ELECTRONIC COMPONENT BASE AND RADIO ELECTRONIC EQUIPMENT
Погосов Г.С., АО «НПЦ «МЕРА», +7 (916) 128-48-34, pogosov.r@mail.ru Pogosov G.S., JSC "SPC "MERA", +7 (916) 128-48-34, pogosov.r@mail.ru
Аннотация. В статье рассмотрен принципиально новый для испытательных лабораторий (центров) (далее – ИЛ(Ц)) подход к организации процесса испытаний электронной компонентной базы (далее – ЭКБ) и радиоэлектронной аппаратуры (далее – РЭА). Несмотря на то, что слово "новизна" для данного подхода давно уже неуместна, в сфере испытаний он, к сожалению, не применяется.
Annotation. The article discusses a fundamentally new approach for testing laboratories (centers) approach to organizing the process of testing an electronic component base and radio electronic equipment.
Ключевые слова: бережливое производство, электронная компонентная база, радиоэлектронная аппаратура, испытания, измерения, проектная деятельность
Keywords: lean production, electronic component base, electronic equipment, testing, measurements, design activities
ПРОБЛЕМЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ ПРИ РАЗРАБОТКЕ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ И ПУТИ ИХ РЕШЕНИЯ
PROBLEMS OF DETERMINING MEASUREMENT ACCURACY INDICATORS IN THE DEVELOPMENT OF AN ELECTRONIC COMPONENT DATABASE AND WAYS TO SOLVE THEM
Есакова М. М., Быканов В. В., к.т.н., с.н.с., Тупицина А. В., Кремнева А. В. ФГБУ «ВНИИР», +7 (903) 774-25-07, sertifbv@yandex.ru; Душкин Ю.В., Журиков Р.Н. Esakova M. M., Bykanov V. V., Ph. D. of engineering sciences, Senior Researcher Officer, Tupitsina A. V., Kremneva A. V. FSBI «VNIIR», +7 (903) 774-25-07, sertifbv@yandex.ru; Dushkin Yu.V., Zhurikov R.N.
Аннотация. В настоящее время метрологи и разработчики изделий ЭКБ сталкиваются с неоднозначностью в вопросах определения показателей точности измерений в технической документации. В статье проведен анализ состояния проблемы и рассмотрены наиболее практичные варианты оценивания показателей точности измерений параметров разрабатываемых изделий ЭКБ.
Annotation. Currently, metrologists and developers of electronic component base products are faced with ambiguity in determining measurement accuracy indicators in technical documentation. The article analyzes the state of the problem and considers the most practical options for assessing the accuracy of measuring the parameters of the developed electronic component base products.
Ключевые слова: показатели точности измерений, погрешность измерений, техническая документация, электронная компонентная база
Keywords: measurement accuracy indicators, measurement error, technical documentation, electronic component base
ПРИМЕНЕНИЕ РЕЖИМА СОБИРАНИЯ ЗАРЯДА В СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ
APPLICATIONS OF CHARGE COLLECTION SCANNIG ELECTRON MICROSCOPY OF SEMICONDUCTOR DEVICES
Бондаренко А. С., к. ф.-м. н., Аскерко А. Н., Ковтун А.Ю. АО «КБ «Ракета»; +7 (812) 409-90-40, bond.anton@gmail.com, aan@kbrocket.ru, Bondarenko A. S., PhD, Askerko A. N., Kovtun A.Yu. JSC «DB «Rocket»; +7 (812) 409-90-40, bond.anton@gmail.com; aan@kbrocket.ru,
Аннотация. Целью данной работы является демонстрация возможности применения сканирующей электронной микроскопии в задачах анализа отказов в полупроводниковых приборах. Режим собирания заряда позволяет визуализировать скрытые слои металлизации, локализовать дефектные элементы интегральных схем, исследовать электрическую активность дефектов кристаллической структуры в полупроводниках.
Annotation. This work aims to demonstrate applications of scanning electron microscopy for the failure analysis of semiconductor devices. The charge collection scanning electron microscopy allows one to visualize internal metallization layers, localize defect elements of integral circuits, and investigate electrical activity of structural defects of crystalline semiconductor.
Ключевые слова: сканирующая электронная микроскопия, полупроводниковые приборы, анализ отказов, разрушающий физический анализ, потенциальный контраст
Keywords: scanning electron microscopy, semiconductor devices, failure analysis, destructive physical analysis, voltaic contrast
ИНФОРМАЦИОННОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ЗАДАЧ СИНТЕЗА РЭА В РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ОТРАСЛИ
INFORMATION SUPPORT OF SYNTHESIS TASKS IN THE RADIOELECTRONIC INDUSTRY
Колядин А.И., Невмывака А.Н., Чупринов А.А. к.т.н., ФГБУ «ВНИИР», kolyadin@gmail.com, nevmyvaka@vniir-m.ru, toliy1962@list.ru Kolyadin A.I., Nevmyvaka A.N., Chuprinov A.A. Ph.D., FSBI "VNIIR", kolyadin@gmail.com, nevmyvaka@vniir-m.ru, toliy1962@list.ru
Аннотация. В статье рассмотрены вопросы, связанные с информационным обеспечением процессов разработки (проектирования) изделий радиоэлектронной аппаратуры (РЭА), а именно:
какие информационные ресурсы требуются для разработки РЭА;
какие проблемы необходимо решить для создания ресурсов, предназначенных для информационного обеспечения задач, связанных с разработкой РЭА;
каким образом выделить наиболее важную для решения конкретной задачи информацию.
Annotation. The article deals with issues related to the information support of the development (design) of electronic equipment (REA) products, namely: what information resources are required for the development of REA; what problems need to be solved in order to create resources intended for information support of tasks related to the development of REA; how to identify the most important information for solving a specific task.
Ключевые слова: проектирование, информационное обеспечение, радиоэлектронная аппаратура, радиоэлектронные и информационные технологии, электронная компонентная база
Keywords: design, information support, electronic equipment, electronic and information technologies, electronic component base
О ВОЗМОЖНОМ СОКРАЩЕНИИ ОБЪЕМА ИСПЫТАНИЙ ПРИ ПОДТВЕРЖДЕНИИ ТРЕБОВАНИЙ К СОХРАНЯЕМОСТИ
ABOUT A POSSIBLE REDUCTION IN THE VOLUME OF TESTS WHEN CONFIRMING THE PERSISTENCE REQUIREMENTS
Синельников Ю.Г., Рыбаков А.К., ФГБУ «ВНИИР»; +7(495)-586-17-21, sinelnikov@vniir-m.ru, rybakov@ vniir-m.ru Sinelnikov Y.G., Rybakov A.K., FSBI "VNIIR"; +7(495)-586-17-21, sinelnikov@vniir-m.ru , rybakov@ vniir-m.ru
Аннотация. В статье рассматриваются вопросы сокращения продолжительности проведения испытаний и объема выборки при подтверждении требований к сохраняемости на этапе разработки изделий ЭКБ за счет оптимизации последовательности проведения испытаний, их ускорения форсированием условий хранения и применения метода статистического прогнозирования тренда технических параметров изделий. Приведенные в статье основные положения методики оценки выполнения требований к сохраняемости основаны на положениях действующих стандартов в области надежности ЭКБ, что делает возможным их применения при разработке методик испытаний на сохраняемость изделий ЭКБ на этапе разработки и при проведении испытаний на сохраняемость в рамках типовых испытаний.
Annotation. The article discusses the issues of reducing the duration of testing and the sample size when confirming the requirements for preservation at the stage of development of ECB products by optimizing the sequence of tests, accelerating them by forcing storage conditions and using the method of statistical forecasting of the trend of technical parameters of products. The main provisions of the methodology for assessing compliance with the requirements for preservation given in the article are based on the provisions of the current standards in the field of ECB reliability, which makes it possible to apply them in the development of test methods for the preservation of ECB products at the development stage and during preservation tests within the framework of standard tests.
Ключевые слова: электронная компонентная база, испытания на сохраняемость, оптимизация испытаний, сокращение продолжительности испытаний, форсирование условий хранения, метод статистического прогнозирования тренда технических параметров изделий
Keywords: electronic component base, preservation tests, optimization of tests, reduction of test duration, forcing storage conditions, method of statistical forecasting of the trend of technical parameters of products
ОБ ОСОБЕННОСТЯХ ТЕХНИЧЕСКОГО РЕГУЛИРОВАНИЯ В ОБЛАСТИ ЭЛЕКТРОННОЙ ПРОДУКЦИИ
ABOUT THE FEATURES OF TECHNICAL REGULATION OF ELECTRONIC PRODUCTS IN THE RADIO-ELECTRONIC INDUSTRY
Невмывака А.Н., Подъяпольский С. Б., к.т.н., Булгаков О.Ю., к. воен. н., Лепешкин А. В., Осипова Е. М., ФГБУ «ВНИИР»; +7 919-766-31-26, saharov@vniir-m.ru Nevmyvaka A.N., Podyapolsky S. B., Candidate of Technical Sciences, S.N.S., Bulgakov O.Yu., Ph.D. of military sciences, Lepeshkin A. V., Osipova E. M., FSBI "VNIIR"; +7 919-766-31-26, saharov@vniir-m.ru
Аннотация. В данной статье анализируется действующая норамтивно-правовая база в области подтверждения соответствия, требования и положения в части задания направлений подтверждения соответствия электронной продукции, особенности технического регулирования в Российской Федерации электронной продукции гражданского назначения, а также формулируется научная задача порядка формирования требований по техническому регулированию электронной продукции.
Annotation. This article analyzes the current regulatory and legal framework in the field of conformity assessment, requirements and regulations regarding the assignment of directions for conformity assessment of electronic products, features of technical regulation in the Russian Federation of electronic products for civil purposes, and also formulates the scientific task of the procedure for the formation of requirements for technical regulation of electronic products.
Ключевые слова: техническое регулирование, ЕАЭС, ТР, РФ, ЭКБ, РЭА, подтверждение соответствия, сертификация, декларирование, сертификат, декларация, лицензирование, электронная продукция
Keywords: technical regulation, EAEU, TR, RF, ECB, REA, conformity assessment, certification, declaration, certificate, declaration, licensing, electronic products