«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 12
Исследование интерметаллидов сварного интерфейса золото-алюминий в полупроводниковых приборах методами сканирующей электронной микроскопии
Страница 11
Investigation of intermetallics at gold-aluminum welded interface in semiconductor devices by analytical scannig electron microscopy
Page 11
СИСТЕМА УПРАВЛЕНИЯ НАДЕЖНОСТЬЮ НА СТАДИЯХ ЖИЗНЕННОГО ЦИКЛА ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ
Страница 36
RELIABILITY MANAGEMENT SYSTEM AT STAGES OF THE LIFE CYCLE OF ELECTRONIC COMPONENT BASE
Page 36
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
3
