«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 17
Унификации маловыводных рамок и использования стандартов МЭК для их применения
Страница 28
Unification of multi-output frames and the use of international standards for their application
Page 28
О ВОЗМОЖНОМ МЕТОДЕ ПОЛУЧЕНИЯ ЗНАЧЕНИЙ ВЕРОЯТНОСТНЫХ ПОКАЗАТЕЛЕЙ БЕЗОТКАЗНОСТИ ПРИ ЗАДАННОМ ПОКАЗАТЕЛЕ НАРАБОТКА ДО ОТКАЗА
Страница 12
ABOUT A POSSIBLE METHOD FOR OBTAINING VALUES OF PROBABILISTIC RELIABILITY INDICATORS FOR A GIVEN INDICATOR OPERATING TIME TO FAILURE
Page 12
Мониторинг, оценка и обеспечение качества ЭКБ
Страница 10
Monitoring, evaluation and quality assurance of electronic component base
Page 10
Противодействие поставкам контрафактной продукции. Методы проверки электронной компонентной базы на отсутствие признаков контрафакта
Страница 35
Determination of the presence or absence of signs of counterfeit origin of the electronic component base
Page 35
ИМПОРТОЗАМЕЩЕНИЕ ПЛИС НА ПРИМЕРЕ ОТЕЧЕСТВЕННЫХ ПОЛУЗАКАЗНЫХ МИКРОСХЕМ НА БМК СЕРИЙ 5503 и 5507
Страница 2
IMPORT SUBSTITUTION OF FPGAs BY THE EXAMPLE OF DOMESTIC FUNCTIONAL ANALOGUES OF LSI ON BMK SERIES 5503 AND 5507
Page 2
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
3
4
