«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 7
Основные метрологические проблемы разработки ЭКБ и РЭА Пути их решения
Страница 13
The main metrological problems of development electronic component base and electronic equipment. The ways of their solution
Page 13
НОРМАТИВНЫЕ ОСНОВЫ СИСТЕМЫ
ОБЕСПЕЧЕНИЯ
ЕДИНСТВА
ИЗМЕРЕНИЙ
В РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ОТРАСЛИ. ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ
Страница 25
REGULATORY FOUNDATIONS OF THE UNIFORM MEASUREMENT SYSTEM IN THE RADIOELECTRONIC INDUSTRY. PROBLEMS AND THEIR SOLUTIONS
Page 25
НОРМАТИВНО-ПРАВОВОЕ РЕГУЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕДУРЫ ЗАДАНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ТРЕБОВАНИЙ К ТЕХНИЧЕСКИМ ОБЪЕКТАМ
Страница 37
NORMATIVE-LEGAL REGULATION OF THE PROCEDURE OF THE TASK OF THE METROLOGICAL REQUIREMENTS TO TECHNICAL OBJECT
Page 37
ГОСТ РВ 0015–002–2020: ТРЕБОВАНИЯ К РЕСУРСАМ ДЛЯ МОНИТОРИНГА И
ИЗМЕРЕНИЯ
. ПРОБЛЕМЫ РАЗРАБОТКИ
Страница 27
GOST RV 0015–002–2020: DEMAND TO MONITORING AND MEASUR-ING RESOURCES. PROBLEMS OF DEVELOPMENT
Page 27
Обеспечение
единства
измерений
электрических параметров полупроводниковых материалов для микро- и наноэлектроники
Страница 13
Ensuring the unity of measurements of electrical parameters of semiconductor materials for micro-and nanoelectronics
Page 13
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2