«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 3
Опыт подготовки и проведения испытаний современных интегральных микросхем
Страница 28
Experience of preparing and test performance of modern integrated microcircuit
Page 28
ОБ ОДНОМ МЕТОДЕ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ СОХРАНЯЕМОСТИ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ
Страница 24
ON ONE METHOD FOR FORECASTING INDICATORS OF SAVING THE ELECTRONIC COMPONENT BASE
Page 24
СТОЙКОСТЬ ЛИТИЕВЫХ И ЛИТИЙ-ИОННЫХ ХИМИЧЕСКИХ ИСТОЧНИКОВ ТОКА К ВОЗДЕЙСТВИЮ СПЕЦИАЛЬНЫХ ФАКТОРОВ
Страница 18
DURABILITY OF LITHIUM AND LITHIUM-ION CHEMICAL CURRENT SOURCES TO THE EFFECTS OF SPECIAL FACTORS
Page 18
