РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ: ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ 3-2023

Аннотация

ОТКАЗЫ МОП-ТРАНЗИСТОРОВ ПРИ ОБЛУЧЕНИИ ТЯЖЕЛЫМИ ИОНАМИ

FAILURES OF MOSFETS DURING IRRADIATION WITH HEAVY IONS

Митин Е.В., Семутенко Ю.Н., Гридасов Л.В., ООО «НПЦ «Гранат», emitin@npcgranat.ru, lgridasov@npcgranat.ru, +7(911) 844-35-70 Mitin E.V., Semutenko Yu.N., Gridasov L.V., LLC "SPC "Garnet", emitin@npcgranat.ru , lgridasov@npcgranat.ru , +7(911) 844-35-70

Аннотация. Приведены результаты испытаний и исследований стойкости МОП-транзисторов к воздействию тяжелых заряженных частиц. Обсуждаются проявления и условия возникновения отказов различных типов, а также влияние на них таких факторов, как электрический режим при облучении и угол падения частиц. На основании выявленных закономерностей сформированы предложения по оптимизации методик испытаний и направлениям дальнейшего изучения отказоустойчивости МОП-транзисторов и изделий на их основе.

Annotation. The results of tests and studies of the resistance of MOSFETs to the effects of heavy charged particles are presented. The manifestations and conditions of various types of failures are discussed, as well as the influence of factors such as the electrical regime during irradiation and the angle of incidence of particles on the chip. Based on the revealed patterns, proposals were formed to optimize test methods and directions for further study of the fault tolerance of MOSFETs and products based on them.

Ключевые слова: МОП-транзистор, тяжелые заряженные частицы, SEGR, SEB, пробой, исследования, латентный дефект

Keywords: MOSFET, heavy charged particles, SEGR, SEB, breakdown, research, latent defect

РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И РАЗРАБОТКИ ПОДХОДОВ К ПРИМЕНЕНИЮ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ЛЕВИТАЦИОННОЙ НАПРАВЛЯЮЩЕЙ ДЛЯ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ В КОМПЬЮТЕРНЫХ СИСТЕМАХ ВИЗУАЛЬНОЙ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ

RESULTS OF RESEARCH AND DEVELOPMENT OF APPROACHES TO THE APPLICATION OF ELECTROMAGNETIC LEVITATION GUIDE FOR USE IN COMPUTER SYSTEMS FOR VISUAL ASSESSMENT OF THE QUALITY OF MICROELECTRONICS PRODUCTS

Рубцов Ю.В., АО «ЦКБ «Дейтон»; +7-926-009-37-00, rubtsov@deyton.ru Rubtsov U.V., JSC "Central Design Office "Deyton"; +7-926-009-37-00, rubtsov@deyton.ru

Аннотация. Современные требования к разработке изделий микроэлектроники выдвигают необходимость автоматизации технологических процессов визуальной оценки их качества. В настоящее время проверка качества изделий микроэлектроники выполняется без применения средств автоматизации и характеризуется низкой производительностью и ограничена человеческим фактором. Следовательно, необходимо проводить исследования, разрабатывать и применять новые технологии для преодоления существующих ограничений. В этой статье представлен подход к разработке новой электромагнитной левитационной направляющей для использования в компьютерных системах визуальной оценки качества изделий микроэлектроники, в которых конструкции и расположение компонентов магнитной направляющей рассмотрены с учетом требований и принципов проектирования технологических процессов производства изделий микроэлектроники.
Исследования проводились с использованием детерминированных методов, основанных на точных моделях, описывающих пространственную автокорреляцию изделий, в процессах оценки их качества, использующихся на протяжении всех этапов разработки и изготовления изделий для обеспечения точности определения дефектов на их поверхности. В результате введено понятие точной электромагнитной линейной направляющей. Результаты исследований распространяются на изделия микроэлектроники, имеющие в своем составе металл, который обладает магнитными свойствами и внешние электромагнитные воздействия не оказывают последующие влияния на свойства изделий.

Annotation. Modern requirements for the development of microelectronics products make it necessary to automate technological processes for visual assessment of their quality. Currently, quality control of microelectronics products is performed without the use of automation tools and is characterized by low productivity and limited by the human factor. Therefore, it is necessary to conduct research, develop and apply new technologies to overcome existing limitations. This article presents an approach to the development of a new electromagnetic levitation guide for use in computer systems for visual assessment of the quality of microelectronics products, in which the design and location of the components of the magnetic guide are considered taking into account the requirements and principles of designing technological processes for the production of microelectronics products. The studies were carried out using deterministic methods based on accurate models describing the spatial autocorrelation of products in the processes of assessing their quality, used throughout all stages of product development and manufacture to ensure the accuracy of determining defects on their surface. As a result, the concept of an accurate electromagnetic linear guide is introduced. The research results apply to microelectronics products that contain a metal that has magnetic properties and external electromagnetic influences do not have a subsequent effect on the properties of the products.

Ключевые слова: магнитная направляющая; электромагнитная левитация, автоматизация процессов обеспечение качества изделий микроэлектроники.

Keywords: magnetic guide; electromagnetic levitation, automation of processes, quality assurance of microelectronics products

ВОПРОСЫ МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ НЕСТАНДАРТНОГО ИСПЫТАТЕЛЬНОГО ОБОРУДОВАНИЯ (ИСПЫТАТЕЛЬНЫХ СТЕНДОВ) В ПРОЦЕССЕ РАЗРАБОТКИ НА ПРЕДПРИЯТИЯХ РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ

ISSUES OF METROLOGICAL SUPPORT OF NON-STANDARD TEST EQUIPMENT (TEST BENCHES) IN THE DEVELOPMENT PROCESS AT ENTERPRISES OF THE RADIOELECTRONIC INDUSTRY

Быканов В.В., к.т.н., с.н.с., Есакова М.М., Тупицина А.В., Кремнева А.В., Косач А.С. ФГБУ «ВНИИР», +7 (903) 774-25-07, sertifbv@yandex.ru Bykanov V.V., Ph. D. of engineering sciences, Senior Researcher Officer, Esakova M.M., Tupitsina A.V., Kremneva A.V., Kosach A.S. FSBI «VNIIR», +7 (903) 774-25-07, sertifbv@yandex.ru

Аннотация. В настоящее время метрологи и разработчики изделий ЭКБ сталкиваются с неоднозначностью в вопросах аттестации нестандартного испытательного оборудования. В статье проведен анализ состояния проблемы и рассмотрены наиболее практичные варианты оценивания показателей точности измерений параметров при аттестации нестандартного испытательного оборудования.

Annotation. At present, metrologists and developers of ECB products face ambiguity in the issues of attestation of non-standard test equipment. The article analyzes the state of the problem and considers the most practical options for assessing the accuracy of measurement parameters during the certification of non-standard test equipment.

Ключевые слова: метрологическое обеспечение, испытания, техническая документация, электронная компонентная база, испытательное оборудование, метрологическая экспертиза, испытательный стенд, аттестация, погрешность измерений, неопределенность измерений

Keywords: metrological support, tests, technical documentation, electronic component base, test equipment, metrological expertise, test stand, metrological attestation, measurement error, measurement uncertainty

СОСТОЯНИЕ И ПОТЕНЦИАЛ РАЗВИТИЯ ФОТОННЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ НА ФОСФИДЕ ИНДИЯ, НИОБАТЕ ЛИТИЯ И КРЕМНИИ

STATE AND DEVELOPMENT POTENTIAL OF PHOTONIC INTEGRATED CIRCUITS BASED ON INDIUM PHOSPHIDE, LITHIUM AND SILICON NIOBATE

Башкатов А.С., Корнилов С.В., к.т.н., доцент, Морозова О.Н., ФГБУ «ВНИИР», +7 (495) 586-17-21, bashkatov@vniir-m.ru, kornilov@vniir-m.ru; Певчих К.Э., Светиков В.В., к.ф-м.н., АО «ЗНТЦ»; Bashkatov A.S., Kornilov S.V., Candidate of Technical Sciences, Associate Professor, Morozova O.N., FSBI "VNIIR", +7 (495) 586-17-21, bashkatov@vniir-m.ru , kornilov@vniir-m.ru; Pevchikh K.E., Svetikov V.V., Ph.D., JSC "ZNTC"

Аннотация. Серия статей посвящена описанию области применений фотонных интегральных схем, технологий их изготовления и потенциала развития. Будут описаны специфика основных технологий, их преимущества и недостатки, основные тренды и наиболее успешные примеры применения.

Annotation. A series of articles is devoted to the description of the field of applications of photonic integrated circuits (PIC), their manufacturing technologies and development potential. The specifics of the main technologies, their advantages and disadvantages, the main trends and the most successful application examples will be described.

Ключевые слова: фотонные интегральные схемы, кремний на изоляторе, система на кристалле

Keywords: photonic integrated circuits, silicon on insulator, System on a Chip (SoC)

КОНЦЕПЦИЯ РАЗВИТИЯ СИСТЕМ ИНФОРМАЦИОННО-ТЕЛЕМЕТРИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕ-НИЯ ОТРАБОТКИ СРЕДСТВ ВЫВЕДЕНИЯ

CONCEPT OF DEVELOPMENT OF INFORMATION AND TELEMETRY SUPPORT SYSTEMS FOR DEVELOPMENT OF LAUNCH VEHICLES

Воронцов В.Л., к.т.н., АО «Российские космические системы», a762642@yandex.ru; Давыдов И.А., к.т.н., АО «Научно-производственное объединение измерительной техники», Davydov_I@npoit.ru Vorontsov V.L., Candidate of Sciences (Engineering), AO Russian Space Systems, a762642@yandex.ru; Davydov I.A., Candidate of Sciences (Engineering), AO Measuring Equipment Research and Production Association, Davydov_I@npoit.ru

Аннотация. Настоящая статья относится к научно-методическому обеспечению процесса развития систем информационно-телеметрического обеспечения отработки средств выведения (далее - СИТОСВ). Её содержание является результатом обобщения прошлых работ по тематике развития СИТОСВ. Предполагается, что материал статьи ляжет в основу официальной Концепции развития си-стем информационно-телеметрического обеспечения отработки средств вы-ведения (далее – Концепция). Для упрощения процесса трансформации настоящей статьи в проект Концепции и – далее – в официальную Концеп-цию, статья построена таким образом, чтобы указанные в ней ссылки на ис-точники литературы заменить ссылками на соответствующие Приложения Концепции с пояснениями, содержание которых соответствует вышеупомя-нутым источникам литературы. При формулировании положений Концепции с целью обеспечения их лаконичности целесообразно рассмотреть и реализо-вать возможности переноса некоторых (уместных) фрагментов настоящей статьи в Приложения Концепции.

Annotation. This paper refers to the scientific and methodological support for development of information and telemetry support systems for development of launch vehicles (ITSSLV). Its content is a result of summarization of past work in the area of ITSSLV development. It is expected that the paper material will form the basis of an official Concept of development of information and telemetry systems for development of launch vehicles (hereinafter referred to as the Concept). To simplify the process of transforming this paper into a draft Concept and further into an official Concept, the paper is structured in a way that will allow replacing the literature source references in the paper with references to the relevant Concept Annexes with explanations. The content of the Annexes will correspond to the above-mentioned literature sources. When formulating the Concept provisions, it is advisable to consider and implement the possibility of putting some (relevant) fragments of the paper into the Annexes of the Concept to ensure the provision conciseness.

Ключевые слова: информационно-телеметрическое обеспечение, программно-технические средства, система информационно-телеметрического обеспечения отработки средств выведения, телеметрируемый объект, телеметрическая информация, телеметрический комплекс космодрома

Keywords: information and telemetry support, software and hardware facilities, information and telemetry support system for development of launch vehicles, telemetered object, telemetry information, telemetry complex of a cosmodrome

ПОДХОД К МОДЕЛИРОВАНИЮ ЭКОНОМИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ

APPROACH TO MODELING ECONOMIC PROCESSES

Боков С.И., д. э. н., член-корреспондент АВН и РАРАН, Пестун У.А., к. э. н.; ФГБУ «46 ЦНИИ» Минобороны России, +7 (495) 471-17-07, bokov.s.i@mail.ru Bokov S.I., Doctor of Economics, Corresponding Member of AVN and RARAN, Pestun U.A., Candidate of Economics; FSBI "46 Central Research Institute" of the Ministry of Defense of Russia, +7 (495) 471-17-07, bokov.s.i@mail.ru

Аннотация. В работе рассмотрены вопросы, касающиеся экономического моделирования, посредством сведения связей экономических процессов к уравнениям Лотки-Вальтерры, отражена этапность проведения такого моделирования, рассмотрены подходы построения экономических моделей и их анализа.

Annotation. The work examines issues related to economic modeling by reducing the connections of economic processes to the Lotka-Walterra equations, reflects the stages of such modeling, and considers approaches to constructing economic models and their analysis.

Ключевые слова: экономическое моделирование, прямая и обратная задачи, уравнение, фазовый портрет

Keywords: economic modeling, direct and inverse problems, equation, phase portrait