«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 48
СИСТЕМА УПРАВЛЕНИЯ НАДЕЖНОСТЬЮ НА СТАДИЯХ ЖИЗНЕННОГО ЦИКЛА ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ
Страница 36
RELIABILITY MANAGEMENT SYSTEM AT STAGES OF THE LIFE CYCLE OF ELECTRONIC COMPONENT BASE
Page 36
АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ВИЗУАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ МЕТОДОМ СРАВНЕНИЯ ШАБЛОНОВ
Страница 18
AUTOMATED VISUAL QUALITY CONTROL OF MICROELECTRONICS PRODUCTS BY TEMPLATE MATCHING METHOD
Page 18
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЕФЕКТОВ НА ИЗДЕЛИЯХ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ В РЕЖИМЕ РЕАЛЬНОГО ВРЕМЕНИ ПРИ ПОМОЩИ СВЕРХТОЧНОЙ НЕЙРОННОЙ СЕТИ
Страница 18
REAL-TIME DEFECT DETECTION ON MICROELECTRONIC COMPONENTS USING A CONVOLUTIONAL NEURAL NETWORK
Page 18
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
...
8
9
10
