«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 23
О ВОЗМОЖНОМ СОКРАЩЕНИИ ОБЪЕМА ИСПЫТАНИЙ ПРИ ПОДТВЕРЖДЕНИИ ТРЕБОВАНИЙ К СОХРАНЯЕМОСТИ
Страница 22
ABOUT A POSSIBLE REDUCTION IN THE VOLUME OF TESTS WHEN CONFIRMING THE PERSISTENCE REQUIREMENTS
Page 22
Обеспечение единства измерений электрических
параметров
полупроводниковых материалов для микро- и наноэлектроники
Страница 13
Ensuring the unity of measurements of electrical parameters of semiconductor materials for micro-and nanoelectronics
Page 13
СХЕМОТЕХНИКА ПОВЕРКИ АМПЛИТУДНО-ФАЗОВОЙ ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРИТЕЛЕЙ РАЗНОСТИ ФАЗ
Страница 17
CIRCUIT TECHNIQUE FOR CHECKING THE AMPLITUDE-PHASE ERROR OF PHASE DIFFERENCE MEASURING INSTRUMENTS
Page 17
ПРОБЛЕМЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ ПРИ РАЗРАБОТКЕ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ И ПУТИ ИХ РЕШЕНИЯ
Страница 28
PROBLEMS OF DETERMINING MEASUREMENT ACCURACY INDICATORS IN THE DEVELOPMENT OF AN ELECTRONIC COMPONENT DATABASE AND WAYS TO SOLVE THEM
Page 28
ЗАДАНИЕ
ПАРАМЕТРОВ
УСЛОВИЙ ОКРУЖАЮЩЕЙ СРЕДЫ ДЛЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ БЕЗОТКАЗНОСТИ КОРПУСНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ
Страница 32
SETTING PARAMETERS OF ENVIRONMENTAL CONDITIONS FOR THE RELIABILITY INDICATORS OF THE CASE SEMICONDUCTOR PRODUCTS
Page 32
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
3
4
5
