«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 31
Унификации маловыводных рамок и использования стандартов МЭК для их применения
Страница 28
Unification of multi-output frames and the use of international standards for their application
Page 28
СОВЕРШЕНСТВОВАНИЕ СИСТЕМЫ ОЦЕНКИ СООТВЕТСТВИЯ И ПОДТВЕРЖДЕНИЯ
КАЧЕСТВА
ЭЛЕКТРОННОЙ ПРОДУКЦИИ
Страница 28
IMPROVING THE SYSTEM OF CONFORMITY ASSESSMENT AND QUALITY ASSURANCE OF ELECTRONIC PRODUCTS
Page 28
АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ВИЗУАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ
КАЧЕСТВА
ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ МЕТОДОМ СРАВНЕНИЯ ШАБЛОНОВ
Страница 18
AUTOMATED VISUAL QUALITY CONTROL OF MICROELECTRONICS PRODUCTS BY TEMPLATE MATCHING METHOD
Page 18
Новое в требованиях ЭС РД 010-2020
Страница 30
New in the requirements of ES RD 010-2020
Page 30
МЕТОДИЧЕСКИЕ РЕКОМЕНДАЦИИ И ТРЕБОВАНИЯ К ПОРЯДКУ ПРОВЕДЕНИЯ ВЫЕЗДНЫХ ПРОВЕРОК КВАЛИФИЦИРОВАННЫХ ПОСТАВЩИКОВ ЭКБ
Страница 34
METHODOLOGICAL RECOMMENDATIONS AND REQUIREMENTS FOR THE PROCEDURE FOR CONDUCTING ON-SITE INSPECTIONS OF QUALIFIED ECB SUPPLIERS
Page 34
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
3
4
5
6
7
