«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 31
К ВОПРОСУ ОБ ОЦЕНКЕ ПРАВОМОЧНОСТИ ПРЕДЫДУЩИХ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ
Страница 9
ON THE ISSUE OF ASSESSING THE VALIDITY OF PREVIOUS MEASUREMENT RESULTS
Page 9
Обеспечение единства измерений электрических параметров полупроводниковых материалов для микро- и наноэлектроники
Страница 13
Ensuring the unity of measurements of electrical parameters of semiconductor materials for micro-and nanoelectronics
Page 13
Значение метрологического обеспечения в радиоэлектронной отрасли и его совершенствование
Страница 16
The importance of metrological support in the radio electronic branch and its improvement
Page 16
РАСЧЕТЫ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ СПЕКТРОВ ГАММА-ИЗЛУЧЕНИЯ И МОЩНОСТИ КЕРМЫ В КРЕМНИИ МЕТОДОМ МОНТЕ-КАРЛО ДЛЯ ГАММА-УСТАНОВКИ К–120000
Страница 5
CALCULATIONS OF THE ENERGY SPECTRA OF GAMMA RADIATION AND POWER OF KERMA IN SILICON BY THE METHOD OF MONTE CARLO FOR GAMMA INSTALLATION K–120000
Page 5
Оценка грибостойкости различных материалов изоляции, применяемых при изготовлении проводов
Страница 36
Definition of mold resistance of some wire insulation
Page 36
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
3
4
5
6
7