«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 31
О ВОЗМОЖНОМ СОКРАЩЕНИИ ОБЪЕМА
ИСПЫТАНИЙ
ПРИ ПОДТВЕРЖДЕНИИ ТРЕБОВАНИЙ К СОХРАНЯЕМОСТИ
Страница 22
ABOUT A POSSIBLE REDUCTION IN THE VOLUME OF TESTS WHEN CONFIRMING THE PERSISTENCE REQUIREMENTS
Page 22
Опыт подготовки и проведения
испытаний
современных интегральных микросхем
Страница 28
Experience of preparing and test performance of modern integrated microcircuit
Page 28
О ЗНАЧИМОСТИ СТАТИСТИЧЕСКИХ ОЦЕНОК ПРИ
ИСПЫТАНИЯХ
НА НАДЁЖНОСТЬ
Страница 26
ON THE SIGNIFICANCE OF STATISTICAL ESTIMATES IN RELIABILITY TESTS
Page 26
ЭНЕРГЕТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ УСКОРЕННЫХ
ИСПЫТАНИЙ
ТРАНЗИСТОРОВ
Страница 6
ENERGY MODEL FOR ACCELERATED TESTING OF TRANSISTORS
Page 6
ТРАНСФОРМАЦИЯ ПОДХОДА К ОРГАНИЗАЦИИ ПРОЦЕССА
ИСПЫТАНИЙ
ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ И РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ
Страница 14
TRANSFORMATION OF APPROACH TO ORGANIZATION OF TEST PROCESS OF ELECTRONIC COMPONENT BASE AND RADIO ELECTRONIC EQUIPMENT
Page 14
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
3
...
6
7
