«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 7
Обеспечение единства
измерений
электрических
параметров
полупроводниковых материалов для микро- и наноэлектроники
Страница 13
Ensuring the unity of measurements of electrical parameters of semiconductor materials for micro-and nanoelectronics
Page 13
РАЗРАБОТКА ПРЕДЛОЖЕНИЙ ПО ОРГАНИЗАЦИИ МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ПОСТАВЩИКОВ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ
Страница 32
DEVELOPMENT OF PROPOSALS FOR THE ORGANIZATION METROLOGICAL SUPPORT OF SUPPLIERS ELECTRONIC COMPONENT BASE
Page 32
МЕТОДИКА ИССЛЕДОВАНИЯ АНАЛОГО-ЦИФРОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ РАЗЛИЧНЫХ АРХИТЕКТУР ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ КОСМИЧЕСКОГО ПРОСТРАНСТВА
Страница 15
METHODOLOGY FOR ANALYZING ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTERS UNDER THE INFLUENCE OF SPACE IONIZING RADIATION
Page 15
ПРОБЛЕМЫ
ИЗМЕРЕНИЯ
ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ
ПАРАМЕТРОВ
КЕРАМИЧЕСКИХ КОНДЕНСАТОРОВ БОЛЬШОЙ ЕМКОСТИ
Страница 25
PROBLEMS OF MEASURING ELECTRICAL PARAMETERS OF HIGH-CAPACITY CERAMIC CAPACITORS
Page 25
ПРОБЛЕМЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ ТОЧНОСТИ
ИЗМЕРЕНИЙ
ПРИ РАЗРАБОТКЕ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ И ПУТИ ИХ РЕШЕНИЯ
Страница 28
PROBLEMS OF DETERMINING MEASUREMENT ACCURACY INDICATORS IN THE DEVELOPMENT OF AN ELECTRONIC COMPONENT DATABASE AND WAYS TO SOLVE THEM
Page 28
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
