РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ: ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ 4-2024

Аннотация

ПРИНЦИПЫ И ПОДХОДЫ К ФОРМИРОВАНИЮ ОТРАСЛЕВОЙ СИСТЕМЫ ИНФОРМАЦИОННОГО ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ И ИНФОРМАЦИОННОЙ ПОДДЕРЖКИ ПРОЦЕССОВ РАЗВИТИЯ И СОВЕРШЕНСТВОВАНИЯ СИСТЕМЫ СТАНДАРТИЗАЦИИ РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОДУКЦИИ ГРАЖДАНСКОГО НАЗНАЧЕНИЯ

PRINCIPLES AND APPROACHES TO THE FORMATION OF AN INDUSTRY SYSTEM OF INFORMATION INTERACTION AND INFORMATION SUPPORT OF THE PROCESSES OF DEVELOPMENT AND IMPROVEMENT OF THE SYSTEM OF STANDARDIZATION OF RADIO ELECTRONIC PRODUCTS FOR CIVIL PURPOSE

Иванов И.С., генеральный директор ФГБУ «ВНИИР», +7 (495) 586-17-21, ivanov@vniir-m.ru Ivanov I.S., General Director of FGBI "VNIIR", +7 (495) 586-17-21, ivanov@vniir-m.ru

Аннотация. Рассмотрены принципы и подходы формирования отраслевой системы информационного взаимодействия и информационной поддержки процессов развития и совершенствования системы стандартизации радиоэлектронной продукции гражданского назначения. Предложена организационно-информационная поддержка, система классификации и информационная поддержка процессов принятия управленческого решения по выполнению предприятиями требований стандартизации и метрологического обеспечения процесса разработки и производства электронной и радиоэлектронной продукции и ЭКБ.

Annotation. The principles and approaches to the formation of an industry-wide system of information interaction and information support for the processes of development and improvement of the standardization system for radio-electronic products for civilian use are considered. Organizational and information support, a classification system and information support for management decision-making processes for enterprises to fulfill the requirements of standardization and metrological support for the development and production of electronic and radio-electronic products and electronic components are proposed.

Ключевые слова: информационные ресурсы, информационная поддержка, научно-технологическое развитие, система классификации, управленческие решения.

Keywords: information resources, information support, scientific and technological development, classification system, management decisions.

О ЗНАЧИМОСТИ СТАТИСТИЧЕСКИХ ОЦЕНОК ПРИ ИСПЫТАНИЯХ НА НАДЁЖНОСТЬ

ON THE SIGNIFICANCE OF STATISTICAL ESTIMATES IN RELIABILITY TESTS

Синельников Ю. Г. ФГБУ «ВНИИР»; +7 (495) 586–17–21; sinelnikov@vniir-m.ru Sinelnikov Y. G. FSBI «VNIIR»; +7 (495) 586–17–21; sinelnikov@vniir-m.ru

Аннотация. В статье рассматриваются вопросы корректности применения сокращённой выборки, относительно нормальной выборки, определённой для требуемых значений вероятности безотказной работы и доверительной вероятности, при испытаниях на надёжность. Проведённое при подготовке статьи математическое моделирование показало неоднозначность полученных результатов испытаний при применении сокращённой выборки. Приведённые в статье положения могут быть использованы при планировании испытаний и проведении исследований методов подтверждения требований к надёжности.

Annotation. The article considers the issues of correctness of application of reduced sampling, relative to normal sampling, defined for required values of probability of failure-free operation and confidence probability, in reliability tests. Mathematical modeling conducted during preparation of the article showed ambiguity of obtained test results when using reduced sampling. The provisions given in the article can be using in planning tests and conducting research into methods of confirming reliability requirements.

Ключевые слова: электронная компонентная база, надёжность, вероятность безотказной работы, доверительная вероятность, доверительный интервал, статистические методы, испытания на надёжность.

Keywords: electronic component base, failure-free operation, probability of failure-free operation, confidence probability, confidence interval, statistical methods, reliability tests.

ФОРМИРОВАНИЕ СИСТЕМЫ ИНФОРМАЦИОННОГО ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ СУБЪЕКТОВ РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ

FORMATION OF A SYSTEM OF INFORMATION INTERACTION OF RADIO-ELECTRONIC INDUSTRY SUBJECTS

Иванов И.С., генеральный директор ФГБУ «ВНИИР», +7 (495) 586-17-21, ivanov@vniir-m.ru, Кузнецов С.В., к. ф. н., заместитель начальника научно-методического управления ФГБУ «ВНИИР», +7 (495) 586-17-21 (доб. 2023), kuznetsovsv@vniir-m.ru, Трусов В.А., д. т. н., доцент, начальник управления исследований систем и процессов ФГБУ «ВНИИР», +7 (495) 586-17-21 (доб. 1203), trusov_va@vniir-m.ru Ivanov I.S., General Director of FGBI “VNIIR”, +7 (495) 586-17-21, ivanov@vniir-m.ru, Kuznetsov S.V., candidate of psychological sciences, Deputy Head of the Scientific and Methodological Department of FGBI “VNIIR”, +7 (495) 586-17-21 (add. 2023), kuznetsovsv@vniir-m.ru, Trusov V.A., doctor of technical sciences, associate professor, Head of the Department research processes and systems of FGBI “VNIIR”, +7 495 586 17 21 (add. 1203), trusov_va@vniir-m.ru

Аннотация. . В данной статье рассматриваются вопросы информационного взаимодействия государственного сектора, бизнеса, институтов развития и предпринимательского сообщества в интересах принятия исключительных мер по обеспечению технологического суверенитета, максимальному исключению импортозависимости.

Annotation. This article examines the issues of information interaction between the public sector, business, development institutions and the business community in the interests of taking exceptional measures to ensure technological sovereignty and the maximum exclusion of import dependence.

Ключевые слова: научно-технологическое развитие, информационное взаимодействие, экспертная оценка, цифровая платформа, радиоэлектронная промышленность.

Keywords: scientific and technological development, information interaction, expert assessment, digital platform, radio-electronic industry.

НАБЛЮДЕНИЕ ФОРМИРОВАНИЯ ПРОТЯЖЕННЫХ ДЕФЕКТОВ В КРЕМНИИ В СКАНИРУЮЩЕМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ В ПРОЦЕССЕ ОТЖИГА IN-SITU

OBSERVATION OF EXTENDED DEFECT FORMATION IN SILICON USING A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DURING IN-SITU ANNEALING

Бондаренко А.С., к. ф.-м. н., ведущий инженер испытательного центра АО «КБ «Ракета», Аскерко А.Н., генеральный директор АО «КБ «Ракета», Ковтун А.Ю., руководитель испытательного центра АО «КБ «Ракета», +7 (812) 409-90-40bond.anton@gmail.com, aan@kbrocket.ru, kau@kbrocket.ru, Bondarenko A.S., PhD, Lead engineer of the test center JSC «DB «Rocket», Askerko A.N., general manager JSC «DB «Rocket», Kovtun A.Yu., Head of the testing center JSC “DB “Rocket”, +7 (812) 409-90-40, bond.anton@gmail.com; aan@kbrocket.ru, kau@kbrocket.ru

Аннотация. Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с возможностью проведения IN-SITU экспериментов по нагреву и наблюдению образца предоставляет широкие возможности для исследования динамических процессов на нано- и микроуровне. В данной работе представлено исследование динамики формирования протяженных дефектов в кремнии, имплантированном ионами гелия, в процессе IN-SITU отжига с использованием СЭМ. Основная цель исследования заключается в выявлении условий, при которых происходят ключевые изменения в структуре дефектов, а также в анализе их влияния на свойства материала.

Annotation. A scanning electron microscope (SEM) with the capability for IN-SITU heating experiments and sample observation provides a powerful tool for studying dynamic processes at the nano- and micro-scale. This paper presents a study of the dynamics of extended defect formation in helium-ion-implanted silicon during IN-SITU annealing using SEM. The primary objective of the research is to identify the conditions under which significant structural changes in defects occur, as well as to analyze their impact on the material's properties.

Ключевые слова: сканирующая электронная микроскоп, полупроводниковые приборы, анализ отказов, промышленность, устройства, кристаллы, материалы, пластины, производство, протяженные дефекты, отжиг

Keywords: scanning electron microscopy, semiconductor devices, failure analysis, industry, devices, crystals, materials, plates, manufacturing, extended defects, annealing

СЕРИЯ МИКРОСХЕМ ГАЛЬВАНИЧЕСКОЙ РАЗВЯЗКИ

A SERIES OF GALVANIC ISOLATION INTEGRATED CIRCUITS

Денисов А.Н., к. т. н., начальник НИЛ перспективной ЭКБ, Федоров Р.А., к. т. н., начальник НИЛ разработки А-Ц БИС ОИМ, НПК «Технологический центр», +7 (499) 720-87-93; +7 (499) 736-95-23; +7 (499) 720-89-92, kovcheg@tcen.ru Denisov A.N., Candidate of Technical Sciences, head of the NIL perspective ECB, Fedorov R.A., Candidate of Technical Sciences, Head of the NIL development of A-C BIS of the OIM, Scientific-Manufacturing Complex “Technological Centre”, +7 (499) 720-87-93; +7 (499) 736-95-23; +7 (499) 720-89-92, kovcheg@tcen.ru

Аннотация. В статье актуализирована тема и приведены доводы о необходимости включения гальванической развязки в цепи с неблагоприятной электромагнитной обстановкой для повышения помехозащищенности, выравнивания соотношения сигнал/шум в сигнальной цепи, точности измерения и обеспечении безопасности при эксплуатации электроприборов и установок.

Annotation. The article updates the topic and provides arguments about the need to include galvanic isolation in a circuit with an unfavorable electromagnetic environment to increase noise immunity, equalize the signal-to-noise ratio in the signal circuit, measurement accuracy and safety during operation of electrical appliances and installations.

Ключевые слова: микросхема, тиристорный эффект.

Keywords: microcircuit, thyristor effect.

ОБ ОСОБЕННОСТЯХ СТАНДАРТИЗАЦИИ В ОБЛАСТИ ТЕХНИЧЕСКИХ ТРЕБОВАНИЙ К СОВРЕМЕННЫМ ПОДХОДАМ ПРИ РАЗРАБОТКИ И ПРОИЗВОДСТВЕ ЭЛЕКТРОННОЙ ПРОДУКЦИИ

ON THE SPECIFICS OF STANDARDIZATION IN THE FIELD OF TECHNICAL REQUIREMENTS FOR MODERN APPROACHES IN THE DEVELOPMENT AND PRODUCTION OF ELECTRONIC PRODUCTS

Булгаков О.Ю. к. воен. н., заместитель директора центра стандартизации и испытаний ФГБУ «ВНИИР», Подъяпольский С.Б., к. т. н., консультант по научной работе ФГБУ «ВНИИР», +7 (985) 725-73-68, psb@vniir-m.ru; Ковганич Ю.В., начальник отдела департамента радиоэлектронной промышленности Минпромторга России; +7 (985) 725-73-68, psb@vniir-m.ru Bulgakov O.Yu., Candidate of Military Sciences, Deputy Director of the Center for Standardization and Testing FGBI "VNIIR", Podyapolsky S.B., Candidate of Technical Sciences, consultant on scientific work FGBI "VNIIR", +7 985-725-73-68, psb@vniir-m.ru; Kovganich Yu.V., Head of the Department of the Department of Radioelectronic Industry of the Ministry of Industry and Trade of the Russian Federation; +7 985-725-73-68, psb@vniir-m.ru

Аннотация. В статье рассматриваются существующие противоречия в области разработки, производства, поставки ЭКБ в объекты критической информационной инфраструктуры. В сложившихся условиях определяются противоречия и предлагается для их разрешения актуальная задача необходимости развития отраслевой системы стандартизации. Раскрываются особенности современного этапа разработки, производства и поставок электронной продукции для российских потребителей, создания страховых запасов, а также противодействия поставкам контрафактной продукции. Предложены подходы к решению сформулированной актуальной задачи. Излагаются подходы к формированию состава документов по стандартизации в области технических требований к электронной продукции, процессам ее разработки и производства.

Annotation. The article examines the existing challenges in the field of development, production, and supply of ECB to critical information infrastructure facilities. Under the current conditions, contradictions are identified and the urgent task of the need to develop an industry standardization system is proposed to resolve them. The features of the current stage of development, production and supply of electronic products for Russian consumers, creation of insurance stocks, as well as countering the supply of counterfeit products are revealed. Approaches to solving the formulated urgent problem are proposed. The approaches to the formation of the composition of standardization documents in the field of technical requirements for electronic products, their development and production processes are described.

Ключевые слова: стандартизация, система стандартизации, страховые запасы, информационная инфраструктура, квалифицированные поставщики, документы по стандартизации, контрафактная продукция.

Keywords: standardization, standardization system, insurance stocks, information infrastructure, qualified suppliers, standardization documents, counterfeit products.

МОДЕЛИРОВАНИЕ ОПТИЧЕСКОГО ЛОГИЧЕСКОГО ЭЛЕМЕНТА НА ОСНОВЕ МНОГОМОДОВОГО ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО ДЕЛИТЕЛЯ 2X2

SIMULATION OPTICAL LOGIC GATE BASED ON A 2X2 MULTIMODE INTERFERENCE COUPLER

Амеличев В.В., к. т. н., начальник отдела МСТ, Кадочкин А.С., к. ф. -м. н., старший научный сотрудник отдела МСТ, Генералов С.С., начальник НИЛ НМЭМС отдела МСТ, Горелов Д.В., начальник НИЛ ИМОС отдела МСТ, НПК «Технологический центр»; +7 (499) 720-87-79; V.Amelichev@tcen.ru Amelichev V.V., Ph. D., Head Department of MST, Kadochkin A.S., Ph. D., Senior Researcher Department of MST, Generalov S.S., head of the laboratory of NMEMS Department of MST, Gorelov D.V., head of the laboratory of IOMS Department of MST Scientific-Manufacturing Complex «Technological Centre»; +7 (499) 720-87-79; V.Amelichev@tcen.ru

Аннотация. В статье приводятся результаты теоретических исследований оптического логического элемента (ОЛЭ) на основе многомодового интерференционного (ММИ) делителя 22, полученные методом конечных разностей во временной области (FDTD). Оптимизированная конструкция ОЛЭ позволяет реализовывать базовые логические функции «НЕ» (NOT), «ИЛИ» (OR), «И-НЕ» (NAND), «исключающее-ИЛИ» (XOR) и «исключающее ИЛИ-НЕ» (XNOR) в диапазоне длин волн 1,530-1,565 мкм (С-диапазон) с коэффициентом затухания между логическими «0» и «1» более 30 дБ. Предложенный ОЛЭ, работающий по технологии полностью оптической обработки сигналов, в дальнейшем может быть использован в оптических логических схемах с целью повышения скорости обработки данных и снижения энергопотребления.

Annotation. The article presents the results of theoretical studies of an optical logic element (OLE) based on a 22 multimode interference (MMI) coupler, obtained by the method of finite differences in the time domain (FDTD). Optimized design of OLE allows to implement basic logic functions NOT, OR, NAND, XOR and XNOR in wavelength range 1,530-1,565 μm (C-band) with coefficient attenuation between logical «0» and «1» is more than 30 dB. The proposed OLE, operating according to the technology of fully optical signal processing, can be further used in optical logic circuits in order to increase the speed of data processing and reduce power consumption.

Ключевые слова: оптический логический элемент, интегральный волновод, интегральная оптическая схема, многомодовый интерференционный делитель, разность фаз, метод конечных разностей во временной области, высокоскоростные вычисления, поляризация, временная задержка, коэффициент затухания.

Keywords: optical logic gate, integrated waveguide, integrated optical circuit, multimode interference coupler, phase difference, finite-difference time-domain (FDTD), high-speed computing, polarization, time delay, extinction ratio.

СОВЕРШЕНСТВОВАНИЕ ПРОЦЕССА ВХОДНОГО КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ, ПОСТАВЛЯЕМОЙ ДЛЯ АППАРАТУРЫ ШИРОКОГО СПЕКТРА НАЗНАЧЕНИЯ

IMPROVING THE INPUT CONTROL PROCESS FOR ELECTRONIC COMPONENTS SUPPLIED TO EQUIPMENT FOR A WIDE VARIETY OF APPLICATIONS

Шведов А.В., заместитель генерального директора по качеству ООО «ВИТАЛ ЭЛЕКТРОНИКС ВП», +7 (911) 762-21-81, shvedov@vital-ic.com Shvedov A.V., Director of Quality VITAL ELECTRONICS VP LLC; +7 (911) 762-21-81, shvedov@vital-ic.com

Аннотация. Важным элементом системы менеджмента качества поставщиков электронной компонентной базы (ЭКБ), является входной контроль, поставляемой продукции. В данной статье сформулированы предложения, по повышению результативности входного контроля ЭКБ в части документирования процесса, обеспечения устройствами для мониторинга и измерений и риск-ориентированного мышления.

Annotation. An essential component of the quality management system for suppliers of electronic components is the input control of products they supply. This article proposes improvements to the efficiency of input control for electronic components in terms of documentation, monitoring, and measurement, as well as a risk-based approach.

Ключевые слова: поставщики электронной компонентной базы, входной контроль продукции, система менеджмента качества.

Keywords: suppliers of electronic components, input product control, and quality management system.