«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 16
ПРИМЕНЕНИЕ МАТЕРИАЛОВ НА СТАДИЯХ ИЗГОТОВЛЕНИЯ QFN-КОРПУСОВ ДЛЯ ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
Страница 8
APPLICATION OF MATERIALS AT THE STAGES OF MANUFACTURING QFN ENCLOSURES FOR MICROELECTRONICS PRODUCTS
Page 8
СОВЕРШЕНСТВОВАНИЕ СИСТЕМЫ ОЦЕНКИ СООТВЕТСТВИЯ И ПОДТВЕРЖДЕНИЯ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОННОЙ ПРОДУКЦИИ
Страница 28
IMPROVING THE SYSTEM OF CONFORMITY ASSESSMENT AND QUALITY ASSURANCE OF ELECTRONIC PRODUCTS
Page 28
Исследование интерметаллидов сварного интерфейса золото-алюминий в полупроводниковых приборах методами сканирующей электронной микроскопии
Страница 11
Investigation of intermetallics at gold-aluminum welded interface in semiconductor devices by analytical scannig electron microscopy
Page 11
КОНЦЕПЦИЯ РАЗВИТИЯ СИСТЕМ ИНФОРМАЦИОННО-ТЕЛЕМЕТРИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕ-НИЯ ОТРАБОТКИ СРЕДСТВ ВЫВЕДЕНИЯ
Страница 24
CONCEPT OF DEVELOPMENT OF INFORMATION AND TELEMETRY SUPPORT SYSTEMS FOR DEVELOPMENT OF LAUNCH VEHICLES
Page 24
ФАЗОВЫЕ ПЕРЕХОДЫ, ЭФИР
Страница 15
PHASE TRANSITIONS, ETHER
Page 15
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
3
4
