«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 17
О ВОЗМОЖНОМ СОКРАЩЕНИИ ОБЪЕМА ИСПЫТАНИЙ ПРИ ПОДТВЕРЖДЕНИИ ТРЕБОВАНИЙ К СОХРАНЯЕМОСТИ
Страница 22
ABOUT A POSSIBLE REDUCTION IN THE VOLUME OF TESTS WHEN CONFIRMING THE PERSISTENCE REQUIREMENTS
Page 22
АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ВИЗУАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ МЕТОДОМ СРАВНЕНИЯ ШАБЛОНОВ
Страница 18
AUTOMATED VISUAL QUALITY CONTROL OF MICROELECTRONICS PRODUCTS BY TEMPLATE MATCHING METHOD
Page 18
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
3
4
