«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 10
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЕФЕКТОВ НА ИЗДЕЛИЯХ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ В РЕЖИМЕ РЕАЛЬНОГО ВРЕМЕНИ ПРИ ПОМОЩИ СВЕРХТОЧНОЙ НЕЙРОННОЙ СЕТИ
Страница 18
REAL-TIME DEFECT DETECTION ON MICROELECTRONIC COMPONENTS USING A CONVOLUTIONAL NEURAL NETWORK
Page 18
ПРИМЕНЕНИЕ МОДЕЛЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ
Страница 6
APPLICATION OF MODELS OF ELECTRONIC COMPONENTS BASE
Page 6
КОМПЬЮТЕРНОЕ ЗРЕНИЕ В СИСТЕМАХ
КОНТРОЛЯ
КАЧЕСТВА
ПРОДУКЦИИ И СВЯЗЬ С TQM И MES
Страница 21
COMPUTER VISION IN QUALITY CONTROL SYSTEMS AND CONNECTION WITH TQM AND MES
Page 21
СОВЕРШЕНСТВОВАНИЕ ПРОЦЕССА ВХОДНОГО
КОНТРОЛЯ
ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ, ПОСТАВЛЯЕМОЙ ДЛЯ АППАРАТУРЫ ШИРОКОГО СПЕКТРА НАЗНАЧЕНИЯ
Страница 31
IMPROVING THE INPUT CONTROL PROCESS FOR ELECTRONIC COMPONENTS SUPPLIED TO EQUIPMENT FOR A WIDE VARIETY OF APPLICATIONS
Page 31
АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ВИЗУАЛЬНЫЙ
КОНТРОЛЬ
КАЧЕСТВА
ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ МЕТОДОМ СРАВНЕНИЯ ШАБЛОНОВ
Страница 18
AUTOMATED VISUAL QUALITY CONTROL OF MICROELECTRONICS PRODUCTS BY TEMPLATE MATCHING METHOD
Page 18
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
