«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 35
АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ВИЗУАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
МЕТОДОМ
СРАВНЕНИЯ ШАБЛОНОВ
Страница 18
AUTOMATED VISUAL QUALITY CONTROL OF MICROELECTRONICS PRODUCTS BY TEMPLATE MATCHING METHOD
Page 18
КОМПЬЮТЕРНОЕ ЗРЕНИЕ В СИСТЕМАХ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ И СВЯЗЬ С TQM И MES
Страница 21
COMPUTER VISION IN QUALITY CONTROL SYSTEMS AND CONNECTION WITH TQM AND MES
Page 21
Методы
и средства измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов и интегральных схем
Страница 22
Methods and means for measuring the thermal resistance of integrated circuit
Page 22
ОБ ОДНОМ ИЗ
МЕТОДОВ
ПОДТВЕРЖДЕНИЯ ТРЕБОВАНИЙ К ВОЗДЕЙСТВИЮ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ ВЫСОКОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ
Страница 27
ABOUT ONE OF THE METHODS OF CONFIRMING RESISTANCE TO THE EXPOSURE TO HIGH INTENSITY ELECTROMAGNETIC FIELDS
Page 27
О ЗНАЧИМОСТИ СТАТИСТИЧЕСКИХ ОЦЕНОК ПРИ ИСПЫТАНИЯХ НА НАДЁЖНОСТЬ
Страница 26
ON THE SIGNIFICANCE OF STATISTICAL ESTIMATES IN RELIABILITY TESTS
Page 26
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
3
...
6
7
