«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 33
АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ВИЗУАЛЬНЫЙ КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
МЕТОДОМ
СРАВНЕНИЯ ШАБЛОНОВ
Страница 18
AUTOMATED VISUAL QUALITY CONTROL OF MICROELECTRONICS PRODUCTS BY TEMPLATE MATCHING METHOD
Page 18
Методы
и средства измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов и интегральных схем
Страница 22
Methods and means for measuring the thermal resistance of integrated circuit
Page 22
ОБ ОДНОМ ИЗ
МЕТОДОВ
ПОДТВЕРЖДЕНИЯ ТРЕБОВАНИЙ К ВОЗДЕЙСТВИЮ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ ВЫСОКОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ
Страница 27
ABOUT ONE OF THE METHODS OF CONFIRMING RESISTANCE TO THE EXPOSURE TO HIGH INTENSITY ELECTROMAGNETIC FIELDS
Page 27
О ЗНАЧИМОСТИ СТАТИСТИЧЕСКИХ ОЦЕНОК ПРИ ИСПЫТАНИЯХ НА НАДЁЖНОСТЬ
Страница 26
ON THE SIGNIFICANCE OF STATISTICAL ESTIMATES IN RELIABILITY TESTS
Page 26
ОБ ОДНОМ
МЕТОДЕ
ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ СОХРАНЯЕМОСТИ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ
Страница 24
ON ONE METHOD FOR FORECASTING INDICATORS OF SAVING THE ELECTRONIC COMPONENT BASE
Page 24
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
3
...
6
7
