«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 3
Обеспечение единства измерений электрических параметров
полупроводниковых
материалов
для микро- и наноэлектроники
Страница 13
Ensuring the unity of measurements of electrical parameters of semiconductor materials for micro-and nanoelectronics
Page 13
СТОЙКОСТЬ НЕКОТОРЫХ ПОЛИМЕРНЫХ
МАТЕРИАЛОВ
К ВОЗДЕЙСТВИЮ СПЕЦИАЛЬНЫХ ФАКТОРОВ
Страница 18
RESISTANCE OF SOME POLYMER MATERIALS TO THE IMPACT OF SPECIAL FACTORS
Page 18
НАБЛЮДЕНИЕ ФОРМИРОВАНИЯ ПРОТЯЖЕННЫХ ДЕФЕКТОВ В КРЕМНИИ В СКАНИРУЮЩЕМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ В ПРОЦЕССЕ ОТЖИГА IN-SITU
Страница 14
OBSERVATION OF EXTENDED DEFECT FORMATION IN SILICON USING A SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DURING IN-SITU ANNEALING
Page 14
