«РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ ОТРАСЛЬ:
ПРОБЛЕМЫ И ИХ РЕШЕНИЯ»
Московская область, г. Мытищи, ул. Колпакова, д. 2А
+7 (495) 586-17-21, +1356
+7 (495) 055-05-99
Главная
О журнале
Для авторов
Архив
Подписка
Адрес редакции
ФГБУ «ВНИИР»
АНО «Электронсертифика»
Поиск
Найдено: 8
СТОЙКОСТЬ НЕКОТОРЫХ ПОЛИМЕРНЫХ МАТЕРИАЛОВ К ВОЗДЕЙСТВИЮ СПЕЦИАЛЬНЫХ ФАКТОРОВ
Страница 18
RESISTANCE OF SOME POLYMER MATERIALS TO THE IMPACT OF SPECIAL FACTORS
Page 18
Опыт подготовки и проведения испытаний современных интегральных микросхем
Страница 28
Experience of preparing and test performance of modern integrated microcircuit
Page 28
Унификации маловыводных рамок и использования стандартов МЭК для их применения
Страница 28
Unification of multi-output frames and the use of international standards for their application
Page 28
Методы и средства измерения теплового сопротивления
полупроводниковых
приборов
и интегральных схем
Страница 22
Methods and means for measuring the thermal resistance of integrated circuit
Page 22
ПРИМЕНЕНИЕ РЕЖИМА СОБИРАНИЯ ЗАРЯДА В СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ
ПРИБОРОВ
Страница 5
APPLICATIONS OF CHARGE COLLECTION SCANNIG ELECTRON MICROSCOPY OF SEMICONDUCTOR DEVICES
Page 5
←
ctrl
предыдущая
следующая
ctrl
→
Страницы:
1
2
